CSTM-光学晶体 卤化物晶体中微量元素的测定 电感耦合等离子体质谱法编制说明.docxVIP

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团体标准

T/CSTMXXXXX-202X

光学晶体卤化物晶体中微量元素的测定电感耦合等离子体质谱法

(标准编制说明)

“光学晶体卤化物晶体中微量元素的测定电感耦合等离子体质谱法”标准制定工作组

光学晶体卤化物晶体中微量元素的测定

电感耦合等离子体质谱法

一、工作简况，包括任务来源、主要工作过程、主要参加单位和工作组成员及其所做的工作等；

1.1引子

世界贸易组织（WTO）在1977年签订的贸易技术壁垒协议(又称标准守则)中规定：在一切需要有技术法规和标准的地方，当已经有国际标准或相应的国际标准即将制定出来时，参加国均应以这些国际的技术法规或标准的有关部分，作为制定本国技术法规和标准的依据。这一国际准则的确立，使全世界都认识到制定国际标准是市场竞争的有力武器。

2002年中国政府提出了应对WTO三大战略：“人才、专利、技术标准”。在技术标准方面，除了与国际现有的技术标准接轨外，选择部分国内有相当工作基础，而国家标准尚处于起步阶段或尚未开展的标准项目，组织专家进行标准的制定工作，并要鼓励有条件的企业积极参加，已经成为“技术标准”工作的重点。

1.2国内外发展概况

光学晶体是一种新型光功能晶体材料，在吸收高能射线或其它放射性粒子的能量后，因射线或粒子的激发，该类晶体会发出荧光脉冲(闪烁光)。经过100年的发展,以光学晶体为核心的探测和成像技术已经在核医学、高能物理、安全检查、工业无损探伤、空间物理及核探矿等方面得到了广泛的应用。卤化物晶体是无机光学晶体材料中重要的组成部分，其从诞生至今已有近20年的历史,先后有几百种晶体被合成和研究。

对任何一种无机材料来说，化学组成始终是影响其性能的重要因素；就卤化物光学晶体材料而言，杂质组成、稀土元素、重金属元素掺杂含量更是与其产品的最终性能密切相关。

（1）在晶体生长的过程中，杂质元素的分布与含量对卤化物光学晶体的性能具有至关重要的性能影响。例如在CsI单晶生产过程中，Fe、Pb、Cr等着色元素的存在会对单晶拉制的过程中产生巨大的危害性影响，而且越是大型的单晶，其中杂质元素的分布和含量越是难以控制。

（2）在晶体制备中，往往会采用离子掺杂对晶体性能进行改性。掺杂离子的挥发，势必造成晶体生长过程中，产生一定的浓度梯度，造成晶体组分的不均匀性，从而影响晶体的使用性能。例如碘化钠晶体中掺杂入重金属铊元素以达到非常高的光输出性能，碘化锶晶体中掺杂铕元素和铈元素等。这些元素的掺杂量是非常关键的一个参数，掺杂含量的高低和均匀性会直接影响到最终晶体的发光性能。

因此卤化物光学晶体中杂质和掺杂元素严重影响到后续高端产品的性能和质量。研究表明，杂质主要来源于合成卤化物晶体的原材料、掺杂元素以及各加工阶段和设备的腐蚀与磨损，主要包括钙、镁、铬、铅、铜、钛、铁、镱、铕、铈、镧、铊等。产品以及原料中微量元素的分析是令采购方大为关注的问题之一。

卤化物光学晶体微量含量分析和纯度评估是保证产品质量、开发新产品的首要环节。产品的纯度和掺杂量不能得到严格控制，严重阻碍了卤化物光学晶体高端材料和各种相关器件的研究工作和实验生产。对上面各种因素进行综合考量，工作组提出了电感耦合等离子体质谱法测定卤化物光学晶体中微量元素含量的分析方法。电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS），具有检出限低、准确度高、线性范围宽且多元素同时测定等显著优点，与其它分析技术如化学分析法、原子吸收光谱、X-射线荧光光谱等方法相比，显示了非常强的竞争力。经过多年发展，此仪器设备已经在很多高校、科研单位和生产单位已非常普及，并发展成为一种适用范围非常广的常规分析方法，非常适合于微量、痕量组分定性、定量分析，而且检测灵敏度高、分析速度快。本方法将有助于帮助高端卤化物光学晶体生产商规范生产流程、保证产品质量，进而提高市场竞争力，是推动卤化物光学晶体在我国各领域的广泛应用和发展的有效手段。

1.3任务来源

《光学晶体卤化物晶体中微量元素的测定电感耦合等离子体质谱法》团体标准是由中国材料与试验团体标准委员会光电材料及产品领域委员会（CSTM/FC60）领域委员会提出，CSTM标准委员会《CSTM标准委员会材试标字[2019]201号》批准，由中国科学院上海硅酸盐研究所主要负责、中国科学院上海硅酸盐研究所中试基地参与起草完成团体标准的制定工作，项目计划号为CSTMLX600200317-2019。

1.4主要工作过程

2019年CSTM标准委员会本标准列入团体标准制定计划后，编制单位随即成立标准编写组，开展标准的起草工作，明确了各单位和相关参与人员的工作职能和任务。

2019年12月标准制定工作组首先全面了解了我国卤化物光学晶体的生产研发现状，调研了国内外相关研究单位的文献方法和产品性能指标。作为人工晶