硬盘SMART检测参数详解[转] (2).pdf

硬硬盘盘SMART检检测测参参数数详详解解[转转]

⼀、SMART概述

硬盘的故障⼀般分为两种：可预测的（predictable）和不可预测的（unpredictable）。后偶⽽会发⽣，也没有办法去预防它，例如芯

⽚突然失效，机械撞击等。但像电机轴承磨损、盘⽚磁介质性能下降等都属于可预测的情况，可以在在⼏天甚⾄⼏星期前就发现这种不正常

的现象。如果发⽣这种问题，SMART功能会在开机时响起警报，⾄少让使⽤有⾜够的时间把重要资料转移到其它储存设备上。

最早期的硬盘监控技术起源于1992年，IBM在AS/400计算机的IBM0662SCSI2代硬盘驱动器中使⽤了后来被命名为

PredictiveFailureAnalsis（故障预警分析技术）的监控技术，它是通过在固件中测量⼏个重要的硬盘安全参数和评估他们的情况，然后由

监控软件得出两种结果：“硬盘安全”或“不久后会发⽣故障”。

不久，当时的微机制造商康柏和硬盘制造商希捷、昆腾以及康纳共同提出了名为IntelliSafe的类似技术。通过该技术，硬盘可以测量⾃

⾝的的健康指标并将参量值传送给操作系统和⽤户的监控软件中，每个硬盘⽣产商有权决定哪些指标需要被监控以及设定它们的安全阈值。

1995年，康柏公司将该技术⽅案提交到SmallFormFactor(SFF)委员会进⾏标准化，该⽅案得到IBM、希捷、昆腾、康纳和西部数据的

⽀持，1996年6⽉进⾏了1.3版的修正，正式更名为S.M.A.R.T.（Self-MonitoringAnalsisAndReportingTechnolog），全称就是“⾃我检

测分析与报告技术”，成为⼀种⾃动监控硬盘驱动器完好状况和报告潜在问题的技术标准。

作为⾏业规范，SMART规定了硬盘制造⼚商应遵循的标准，满⾜SMART标准的条件主要包括：

1）在设备制造期间完成SMART需要的各项参数、属性的设定；

2）在特定系统平台下，能够正常使⽤SMART；通过BIOS检测，能够识别设备是否⽀持SMART并可显⽰相关信息，⽽且能辨别有效和

失效的SMART信息；

3）允许⽤户⾃由开启和关闭SMART功能；

4）在⽤户使⽤过程中，能提供SMART的各项有效信息，确定设备的⼯作状态，并能发出相应的修正指令或警告。在硬盘及操作系统都

⽀持SMART技术并且开启的情况下，若硬盘状态不良，SMART技术能够在屏幕上显⽰英⽂警告信息：“WARNING：

IMMEDIATLYBACKUPYOURDATAANDREPLACEYOURHARDDISKDRIVE，AFAILUREMAYBEIMMINENT．”(警告：⽴刻备份

你的数据并更换硬盘，硬盘可能失效。)

SMART功能不断从硬盘上的各个传感器收集信息，并把信息保存在硬盘的系统保留区(servicearea)内，这个区域⼀般位于硬盘0物理⾯

的最前⾯⼏⼗个物理磁道，由⼚商写⼊相关的内部管理程序。这⾥除了SMART信息表外还包括低级格式化程序、加密解密程序、⾃监控程

序、⾃动修复程序等。⽤户使⽤的监测软件通过名为“SMARTReturnStatus”的命令（命令代码为：B0h）对SMART信息进⾏读取，且不允

许最终⽤户对信息进⾏修改。

⼆、SMART的ID代码

硬盘SMART检测的ID代码以两位⼗六进制数表⽰（括号⾥对应的是⼗进制数）硬盘的各项检测参数。⽬前，各硬盘制造商的绝⼤部分

SMARTID代码所代表的参数含义是⼀致的，但⼚商也可以根据需要使⽤不同的ID代码，或根据检测项⽬的多少增减ID代码。⼀般来说，

以下这些检测项是必需的：

01（001）底层数据读取错误率RawReadErrorRate

04（004）启动/停⽌计数Start/StopCount

05（005）重映射扇区数RelocatedSectorCount

09（009）通电时间累计Power-OnTimeCount(POH)

0A（010）主轴起旋重试次数（即硬盘主轴电机启动重试次数）SpinupRetrCount

0B（011）磁盘校准重试次数CalibrationRetrCount

0C（012）磁盘通电次数PowerC