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1一、光刻材料及设备二、光刻工艺三、刻蚀工艺四、光刻质量检测第5章 光刻技术
2光刻是一种将图像复印同刻蚀相结合的综合性技术。先用照像复印的方法,将光刻掩膜的图形精确的复印到涂覆在介质(多晶硅、氮化硅、二氧化硅、铝等介质薄层)表面上的光致抗蚀剂(光刻胶)上面。然后,在光致抗蚀剂的保护下对待刻材料进行选择性刻蚀,从而在待刻蚀材料上得到所需的图形。集成电路的制造过程中需要经过许多次的光刻,所以,光刻环节的质量是影响集成电路性能、成品率以及可靠性的关键因素之一。
3光刻胶光刻胶(PR)也叫光致抗蚀剂,受到光照后其特性会发生改变。可用来将掩膜版上的图形转移到基片上,也可作为后序工艺时的保护膜。光刻胶有正胶和负胶之分,正胶经过曝光后,受到光照的部分会变得容易溶解,经过显影处理之后被溶解,只留下光未照射的部分形成图形;而负胶和正胶恰恰相反。
41.光刻胶组成(1)感光剂,感光剂是光刻胶的核心部分,曝光时间、光源所发射光线的强度都根据感光剂的特性选择决定的;(2)增感剂,感光剂的感光速度都较慢,生产上效率太低,因此向光刻胶中添加了提高感光速度的增感剂;(3)聚合树脂,聚合树脂用来将其它材料聚合在一起的粘合剂,光刻胶的粘附性、胶膜厚度等都是树脂给的;(4)溶剂,感光剂和增感剂都是固态物质,为了方便均匀的涂覆,要将它们加入溶剂进行溶解,形成液态物质。
52.光刻胶的物理特性(1)分辨率,是指光刻胶可再现图形的最小尺寸;(2)对比度,是指光刻胶对光照区与非光照区间的过渡;(3)灵敏度,是光刻胶要形成良好的图形所需入射光的最低能量;(4)粘滞性,与时间有关,光刻胶中的溶剂挥发会使粘滞性增加;(5)粘附性,粘附性是指光刻胶与基片之间的粘着强度;(6)抗蚀性,化学稳定性一定要很高,能抵抗各种腐蚀。
6光刻掩膜版掩膜版质量的优劣直接影响光刻图形的质量。在IC制造中需要经过多次光刻,每次光刻都需要一块掩膜版,每块掩膜版都会影响光刻质量,光刻次数越多,成品率就越低。所以,要有高的成品率,就必须制作出品质优良的掩膜版,而且一套掩膜版中的各快掩膜版之间要能够相互精确的套准。
71.掩膜版的制备流程掩膜版有铬版(chrome)、超微粒干版、氧化铁版等,主要为基板和不透光材料。以下是基本的制造流程:(1)制备空白版,常见的空白版有铬版、氧化铁版、超微粒干版三种;(2)数据转换,将IC版图经过分层、运算、格式等步骤转换为制版设备所知的数据形式;(3)刻画,利用电子束或激光等通过原版对空白版进行曝光,将图形转移到光刻胶上,即刻画;
8(4)形成图形,对铬膜、氧化铁膜或明胶等进行刻蚀,形成图形,最后除去残胶;(5)检测与修补,测量关键尺寸,检测针孔或残余遮光膜等缺陷并对其进行修补;(6)老化与终检,在200~300℃的温度下烘烤几个小时,对其进行老化。
92.掩膜版的质量要求(1)图形尺寸要精确,间距符合要求,而且不能发生畸变;(2)各块掩膜版间要能够精确地套准,对准误差尽可能小;(3)图形边缘清晰,过渡小,无毛刺,透光区与遮光区的反差要大;(4)掩膜版的表面光洁度要达到一定的要求,无划痕、针孔、小岛等缺陷,掩膜版还要坚固耐磨、不易变形。
103.几种掩膜版常见的传统掩膜版有乳胶掩膜版、硬面铬膜掩膜版以及抗反射铬膜掩膜版三种。乳胶掩膜版是在玻璃衬底上涂覆一层光敏乳胶,再经过图形转移而成;硬面铬膜掩膜版是在石英玻璃上溅射一层厚约60nm左右的铬膜,再经过图形转移而成;
11为了提高掩膜版的分辨率、降低掩膜版对光的反射,在硬面铬膜掩膜版的铬膜上增加了一层厚约20nm的氧化铬膜,这种就是抗反射铬膜掩膜版。此外,还有将掩膜版与wafer合二为一的复合掩膜版,也叫原位掩膜版;在传统掩膜版的基础上增加了相移层的相移掩膜版;X射线掩膜版等不同类型的掩膜版。
12光刻对准曝光方式光刻对准曝光的发展经历了五个阶段,接触式曝光、接近式曝光、投影式曝光、扫描投影式曝光以及步进扫描投影曝光。接触式曝光是最早期的光刻机,结构简单,生产效率高,曝光时掩膜版和wafer上的光刻胶直接接触。接近式曝光,掩膜版与wafer之间约有2.5~25μm的距离。投影式曝光,接触式和接近式曝光由于污染、衍射、分辨率等问题都已不再使用,投影式曝光仍然广泛使用。投影式曝光又分为扫描投影曝光和步进扫描曝光。
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15步进投影曝光方式有很多优点,掩模版寿命加长、掩模制造简单、分辨率高,但对环境的要求非常高,微小的振动都会影响曝光精度;而且光路复杂,设备昂贵。
16非光学曝光1.电子束曝光由于电子束在电磁场的作用下可以
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