NAND闪存固态硬盘空间环境效应测试系统及试验方法 .pdfVIP

(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利说明书

(10)申请公布号CN109285583A

(43)申请公布日2019.01.29

(21)申请号CN201811053571.6

(22)申请日2018.09.11

(71)申请人中国科学院空间应用工程与技术中心

地址100094北京市海淀区邓庄南路9号

(72)发明人李鹏党炜张戈辛敏成刘凯田蓬

(74)专利代理机构北京市盛峰律师事务所

代理人于国栋

(51)Int.CI

权利要求说明书说明书幅图

(54)发明名称

NAND闪存固态硬盘空间环境效应

测试系统及试验方法

(57)摘要

本发明根据系统性研究机理的需

要，分析了试验可激发的空间环境效应及

可行性，建立了NAND闪存固态硬盘空间

环境效应试验方法，为系统性地研究固态

硬盘的空间环境可靠性提供了切入点。本

发明还公开了一套适用于热循环、热真

空、空间辐照等典型空间环境效应的

NAND闪存固态硬盘测试系统，实现了参

数自动监测，数据采集、处理、图形化显

示、存储、回放等功能，可监测批量固态

硬盘SATA接口供电电压、电流、平均

实时读/写速率、平均读/写响应时间、写入

数据量等性能参数，并可定期检查记录

SSD的磁盘容量情况，还能调节工作频

率，控制供电电压。

法律状态

法律状态公告日法律状态信息法律状态

权利要求说明书

1.一种NAND闪存固态硬盘空间环境效应测试系统，其特征在于，包括，测试机

主板、被测的NAND闪存固态硬盘、测试机电源、程控电源和测试机显示器，所

述测试机主板通过显示信号线缆与所述测试机显示器连接，所述测试机主板通过供

电线缆与所述测试机电源连接，所述测试机主板通过SATA数据线缆与所述被测

的NAND闪存固态硬盘连接，所述测试机主板通过以太网线缆与所述程控电源连

接，所述程控电源通过SATA电源线缆与所述被测的NAND闪存固态硬盘连接，

为所述被测的NAND闪存固态硬盘供电；所述测试机主板还通过键盘线缆连接有

键盘和/或通过鼠标线缆连接有鼠标；所述被测的NAND闪存固态硬盘置于模拟空

间环境中；所述模拟空间环境包括：温度试验环境、单粒子辐照试验环境、总剂量

辐照试验环境和热真空试验环境中的一种。

2.根据权利要求1所述的NAND闪存固态硬盘空间环境效应测试系统，其特征在

于，所述温度试验环境主要由温箱构成，所述被测的NAND闪存固态硬盘置于所

述温箱内，所述SATA数据线缆和所述SATA电源线缆均通过所述温箱侧壁上的

线缆开口引出，所述测试机主板、所述测试机电源、所述程控电源和所述测试机显

示器均设置于所述温箱外部。

3.根据权利要求1所述的NAND闪存固态硬盘空间环境效应测试系统，其特征在

于，所述单粒子辐照环境主要由激光脉冲发生器试验台构成，所述被测的NAND

闪存固态硬盘置于所述激光脉冲发生器试验台上，当所述的测试系统处于工作状态

时激光脉冲发生器发出的激光束按照预设规则照射或扫射到所述被测的NAND闪

存固态硬盘上。

4.根据权利要求1所述的NAND闪存固态硬盘空间环境效应测试系统，其特征在

于，所述总剂量辐照试验环境主要由钴60辐射源构成，所述被测的NAND闪存固

态硬盘置于所述钴60辐射源辐射范围内的试验架上，所述测试机主板也位于所述

钴6