物相分析及点阵参数精确测定(材料分析方法) .pdfVIP

材料研究方法

第五章物相分析及点阵参数精确测定

一、定性分析

材料的成分和组织结构是决定其性能的基本因素。化学分析、光光谱分析、X射

线荧光光谱分析、X射线微区域分析（电子探针）等均可测定样品的元素组成，但X

射线物相分析却可鉴别样品中的物相。物相包括纯元素、化合物和固溶体。当待测样

由单质元素或其混合物组成时，X射线物相分析所指示出是元素，此时元素就是物相；

但当元素相互组成化合物或固溶体时，则所给出的是化合物或固溶体而非它们的组成

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元素。X射线衍射得到的结果是宏观体积内（约1cm×10μm）大量原子行为统计的结

果，它与材料宏观的物理、化学及力学性能有直接、密切的关系。

（一）原理

X射线定性相分析是根据晶体对X射线的衍射特——衍射线的方向及强度来达到

鉴定结晶物质的。X射线衍射分析是以晶体结构为基础的。每种结晶物质都有其特定

的结构参数，包括点阵类型、单胞大小、单胞中原子（离子或分子）的数目及其位置

等等，而这些参数在X射线衍射花样中均有所反应。尽管物质的种类有千千万万，但

却没有两种衍射花样完全相同的物质。因此，当X射线通过晶体时，每一种结晶物质

都有自己独特的衍射花样，它们的特征可以用各个反射面的晶面间距d值和反射线的

相对强度I/I来表征，这里的I是同一结晶物质中某一晶面的反射线（衍射线）强度，

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I是该结晶物质最强线的强度，一般把I定为100。其中面间距d与晶胞的形状和大

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小有关，相对强度I/I则与质点的种类及其在晶胞中的位置有关，任何一种结晶物质

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的衍射数据d和I/I是其晶体结构的必然反映，即使该物质存在于混合物中，它的衍

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射数据d和I/I也不会改变，因而可以根据它们来鉴定结晶物质的物相。即某种物质

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的多晶体衍射线条的数目、位置及其强度是该种物质的特征，因而可以成为鉴别物相

的标志。

如果将几种物质混合后摄照，则所得结果将是各单独物相衍射线条的简单叠加。

根据这一原理，就有可能从混合物的衍射花样中，将各物相一个一个的寻找出来。

如果拍摄了大量标准单相物质的图样，则物相分析就变成了简单的对照工作，但

这种做法并非总是可行的，因为它首先要求每个实验室制作并储存大量的图样；其次

是要将已知和未知图样一一对比，也绝非轻而易举的事。必须制定一套迅速检索的办

法。这套办法由哈那瓦特于1938年创立。图样上线条的位置由衍射角2θ决定，而θ

取决于波长λ及面间距d，其中d是由晶体结构决定的基本量。因此，在卡片上列出

一系列d及对应的强度I，就可以代替衍射图样。应用时，只须将所测得图样经过简单

的转换就可与标准卡片相对照，而且在摄照待测图样时不必局限于使用与制作卡片时

同样的波长。如果待测图样的d及I系列与某标准样能很好的对应，就可以认为试样

的物相就是改标准物质。由于标准卡片的数量很多，对照工作必须借助于索引进行。

物相定性分析不仅是最基本的和应用最广泛的分析方法，而且物相分析的知识往

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材料研究方法

往也是其它衍射分析方法的基础，故对卡片及其使用应由一个较为清楚的认识。

利用X射线进行物相定性分析的一般步骤：用一定的实验方法（包括粉晶、德拜

照相法和衍射仪法等）获得待测试样的衍射花样；计算并列出衍射花样中各衍射线的

d值和相应的相对强度I；参比已知的资料鉴定出试样的物相。

（二）粉末衍射卡片

卡片的出版经历了几个阶段：1941年开始，由美国材料试验协会ASTM整理出版；

1969年起改由粉末衍射标准联合委员会JCPDS出版；1978年进一步与国际衍射资料

中心联合出版，即JCPDS/ICDD；1992年后的卡片统一由ICDD出版。至1997年，已

有卡片47组，包括有机、无机相约为67000个。新老卡片的形式不尽相同。

JC