Raid Card性能测试技术报告 2024.docx

[编号ODCC-2024-0500D]

RaidCard性能测试技术报告

开放数据中心标准推进委员会

2024.09发布

RaidCard性能测试技术报告

版权声明

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RaidCard性能测试技术报告

编写组

项目经理：

黄福帅

联想（北京）信息技术有限公司

工作组长：

郭亮

中国信息通信研究院

贡献专家：

李军

深圳忆联信息系统有限公司

张华

深圳忆联信息系统有限公司

胡振国

联想（北京）信息技术有限公司

吴福磊

联想（北京）信息技术有限公司

刘振华

联想（北京）信息技术有限公司

徐媛媛

联想（北京）信息技术有限公司

王瑞

联想（北京）信息技术有限公司

孙志超

中科曙光

许泗强

浪潮通信信息系统有限公司

温小振

中国信息通信研究院

RaidCard性能测试技术报告

目录

一、目的与范围 1

二、缩写和术语 1

三、协议分析 3

（一）RaidCard上下行协议 3

四、性能分析 4

（一）RaidCard性能瓶颈分析 4

1.PcieGen4SAS3 4

2.PcieGen4SAS4 5

（二）SAS3.0RaidCard性能极限估算 6

（三）SAS4.0RaidCard性能能力估算 8

五、Raid等级介绍 9

（一）Raid0 10

（二）Raid1 10

（三）Raid5/6 10

（四）Raid10 11

六、测试环境 11

（一）测试机型 12

（二）测试RaidCard 12

（三）测试配置 12

1.Comfig1 12

2.Comfig2 13

RaidCard性能测试技术报告

3.Comfig3 13

4.Comfig4 13

七、测试方法 14

（一）测前准备 14

（二）测试参数 14

（三）数据监控 15

八、性能调优 16

（一）BIOS条件性能 16

1.BIOS下性能影响因子 16

（二）操作系统下调优方法 16

1.操作系统下性能影响因子 16

2.性能影响因子参数解释 17

3.性能影响因子参数优化数据 18

（三）RaidCard参数调优方法 20

1.Strip参数评估 20

2.Cache参数评估 21

RaidCard性能测试技术报告

RaidCard性能测试技术报告

一、目的与范围

本测试规范旨在为MR/IMRRaidCard环境下，通过RaidSOC来实现对下挂SATASAS盘以及Expander拓展组成不同的RaidLevel的实践测试。对不同的Raid影响因子进行分析找到性能优化方案以及选取合适的性能使用场景。

本测试规范的范围涵盖了不同的RaidCard供应商的不同RaidCard系列，不同的搭载场景，不同的下挂协议层，以及不同的RaidLevel的性能进行数据库统计优化分析。

本测试规范旨在提供一套统一的测试方法和指导，以确保在不同RaidCard，不同的搭载环境，不同的协议实现，以及不同的RaidLevel下，通过对影响因子以及环境特性的分析，找到性能优化的最优点，对不同性能的优势点进行分析，找到最适合的应用场景。

本测试规范不涉及Raid协议的设计和开发，也不涉及RaidLevel实现的具体实现方法。它仅涉及对RaidCard性能的调优以及测试方法。

二、缩写和术语

缩略语

英文全称

中文全称

ACPI

AdvancedConfigurationandPowerManagementInterface

高级配置和电源管理接口

AR

ActiveRange

可运作范围

AWB

AlwaysWriteBack

强制写回

BBU

BatteryBackupUnit

备用电源组

BGI

BackgroundInitializationBGIRate

虚拟磁盘后台初始化时占用的I/O资源的百分比

1

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