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使用相控阵
进行超声检测的常规步骤
2006.5.1
制作者：马克.戴维斯
美国无损检测学会超声三级
奥林巴斯无损检测
使用这个程序之前仔细阅读下面的内容，你确信可以接受下面所
有的条款和条件。
1．这个程序没有进行任何形式的授权，提供给客户的仅仅是一个
最基本的原理，使用此程序的全部风险和后果由消费者和最终用
户承担，奥林巴斯无损检测和戴维斯不能做出明确的和含蓄的保
证，但是不包括商业上的承诺，要尊重此程序。
2．无论使用这个程序所产生的任何直接的、间接的和附带的损
害结果，奥林巴斯无损检测和戴维斯不承担任何责任，包括商业
利益的损失、商业中断、商业信息的丢失等等，在这个程序派生
出来的其他技术，在这个协议之外或者不能使用这个程序，奥林
巴斯已经考虑到这个损害的可能性。
目录
1.0目的
2.0范围
3.0参考书目
4.0超声相控阵检测设备
5.0相控阵设备的线性
6.0相控阵探头可操作确认
7.0相控阵系统校准
8.0表面处理
9.0扫查覆盖和扫查方法
10.0记录评价标准和波幅判断
11.0检测后的清理
12.0文件
附录1相控阵术语学
附录2相控阵内不可用晶片的评价指导方针
附录3超声信号的缺陷定性
附录4相控阵确定缺陷的尺寸
1.0
1.1
1.2
1.2.1
1.2.2
1.2.3
1.2.4
1.2.5
2.0
2.1
2.20.51
0.51.50.25
1.5
2.3
Omniscan
2.4Omniscan
2.5
3.0
3.1
3.2SNTTC1A2001
3.3
3.4
3.5
4.0
4.1Omniscan,
2dbOmniscan1632
S
4.2
,Omniscan
ABC
4.3Omniscan
OmniscanCF
USB
4.4PC
Omniscan
4.5
4.6
Omniscan
4.7
4.8
4.9
4.9.1
10128
4.102M10M
4.11
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