一种光学元件激光损伤阈值测试中损伤点识别方法[发明专利] .pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN112017157A

(43)申请公布日2020.12.01

(21)申请号202010704910.3G06T5/50(2006.01)

(22)申请日2020.07.21

(71)申请人中国科学院西安光学精密机械研究

所

地址710119陕西省西安市高新区新型工

业园信息大道17号

(72)发明人李刚王伟弋东驰魏际同

(74)专利代理机构西安智邦专利商标代理有限

公司61211

代理人董娜

(51)Int.Cl.

G06T7/00(2017.01)

G06T7/11(2017.01)

G06T7/136(2017.01)

G06T7/155(2017.01)

权利要求书2页说明书6页附图9页

(54)发明名称

一种光学元件激光损伤阈值测试中损伤点

识别方法

(57)摘要

本发明提供一种光学元件激光损伤阈值测

试中损伤点识别方法，解决现有图像处理方法无

法解决由光照不均匀、对比度低、损伤点粘连、像

素偏移对损伤点识别准确性影响的问题。该方法

包括步骤：1)将损伤前、损伤后图像转换为损伤

前、损伤后灰度图像；2)对损伤前、损伤后灰度图

像均采用两种局部二值化算法处理并融合，得到

二值化后的损伤前融合图像和损伤后融合图像；

3)根据相位相关计算出的像素偏移量对损伤前

融合图像进行仿射变换，再背景差分运算得到仅

存在损伤点的二值化图像；4)对仅存在损伤点的

二值化图像进行闭运算再迭代腐蚀，得到核信

A

7息；5)生成分水岭分割的种子区域；6)使用分水

5

1岭分割算法对损伤后图像进行分割，获取损伤点

7

1

0信息。

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1

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C

权利要求书

CN112017157A1/2页

1.一种光学元件激光损伤阈值测试中损伤点识别方法，其特征在于，包括以下步骤：

1)图像转换

加载损伤前图像和损伤后图像，并将其转换为损伤前灰度图像和损伤后灰度图像；

2)图像二值化

对损伤前灰度图像分别采用两种局部二值化算法进行处理，并将两种二值化的处理结

果进行融合，得到二值化后的损伤前融合图像；对损伤后灰度图像分别采用两种局部二值

化算法进行处理，并将两种二值化的处理结果进行融合，得到二值化后的损伤后融合图像；

3)偏移量消除

对损伤前融合图像和损伤后融合图像进行相位相关计算，计算出像素偏移量，使用该

像素偏移量对损伤前融合图像进行仿射变换，再将仿射变换后的图像作为背景，使用损伤

后融合图像进行背景差分运算，得到仅存在损伤点的二值化图像；

4)对仅存在损伤点的二值化图像进行闭运算，再进行迭代腐蚀，直至连通域数量连续3

次不发生变化，得到最小的连通域核信息；

5)将连通域核信息作为输入，生成分水岭分割的种子区域；

6)根据种子区域数据，使用分水岭分割算法对损伤后图像进行分割，根据分割结果识

别出损伤点，并获取损伤点信息。

2.根据权利要求1所述光学元件激光损伤阈值测试中损伤点识别方法，其特征在于：步

骤2)中，所述两种局部二值化算法包括Sauvola局部阈值二值化算法和Wellner自适应阈值

二值化算法。

3.根据权利要求2所述光学元件激光损伤阈值测试中损伤点识别方法，其特征在于，所

述Sauvola局部阈值二值化算法步骤如下：

a)计算r*r邻域内像素点(x,y)的灰度均值m(x,y)与标准方