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特种设备无损检测RTⅢ级人员专业理论考核试卷

考核号：

姓名：

密封线特种设备无损检测RTⅢ级人员专业理论考核试卷(开卷)

（参考答案）成绩：题号题型分值扣

分阅卷人签章一是非题30二单项选择题20三多项选择题15四

工艺题20五综合题15总计10020XX年6月16日北京全国特种

设备无损检测人员资格考核委员会一、是非题（在括号内，正确的画

○，错误的画×，每题1.5分，共30分）1．JB/T4730.1－20XX年标准

规定：缺陷评定区是在质量分级评定时，为评价缺陷的性质、数量和密集

程度而设置的一定尺寸的区域。

（×）2．JB/T4730.2－20XX年标准规定：对外径DO≥100mm

的环向对接焊接接头进行100％检测，所需要的最少透照次数与透照方式

和透照厚度比有关。

（×）3．JB/T4730.2－20XX年标准规定：现场进行γ射线检测

时，应按GB*****的规定划定控制区和监督区、设置警告标志，检测作业

时，应围绕监督区边界测定辐射水平。

（×）4．JB/T4730.2－20XX年标准规定：筒体纵缝的一次透照长

度应按透照厚度比K值进行控制，A级、AB级为K≤1.03，此规定的目的

是为了增大透照厚度宽容度。

（×）5．对规格为Φ133×5mm且焊缝余高为1.5mm的管子环

向对接焊接接头，采用AB级检测技术双壁单影透照方式进行100％射线

照相，按JB/T4730.2－20XX年标准规定，底片上至少应识别的丝号是14

（丝径0.160mm）。

（○）6．按JB/T4730.2－20XX年标准规定，由透照次数曲线图

确定透照次数时，如交点在两区域的分界线上，则所需的最少透照次数应

取较大数值。

（○）7．JB/T4730.2－20XX年标准规定：对小径管进行双壁双

影透照椭圆成像时，应控制影像的开口宽度（上下焊缝投影最大间距）在

1倍焊缝宽度左右，其主要目的是提高横向裂纹的检出率。

（×）8．对规格为Φ76×7mm且焊缝宽度为20mm的管子环向

对接焊接接头100％射线照相时，按JB/T4730.2－20XX年标准规定，应

采用双壁双影倾斜透照相隔90°透照2次。

（×）9．承压设备在用检测中，由于结构、环境、射线设备等方

面限制，检测条件不能满足AB级射线检测技术的要求时，经技术负责人

批准，在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）的前提下，若底

片的像质计灵敏度达到了AB级射线检测技术的规定，则可认为按AB级

射线技术进行了检测。

（〇）10．按JB/T4730.2－20XX年规定，用大于12MeV高能X

射线照相时，可不使用后屏。其原因是在高能射线照相中，后屏对增感并

不重要，有时不使用后屏清晰度反而有所提高。

（〇）11．某管道规格为Φ600×48mm，对环向对接焊接接头采

用源在外单壁透照，焦距F为700mm，按JB/T4730.2－20XX年规定，

AB级检测技术，至少要透照11次。

（×）12．按JB/T4730.2－20XX年标准规定，双壁单影透照像质

计置于源侧时，最小透照厚度范围与检测技术等级有关。

（×）13．按JB/T4730.2－20XX年标准规定，对于外径DO＞

100mm的容器根部内凹和根部咬边深度也可采用附录H（规范性附录）

规定的一般对比试块（Ⅱ）进行测定。

（○）14．按JB/T4730.2－20XX年标准规定，当采用高能X射

线照相时，透照厚度范围的确定与检测技术等级无关。

（×）15．JB/T4730.2－20XX年标准规定：当底片评定范围内的

黑度D≤2.5时，透过底片评定范围内的亮度应不低于30cd/m2；

当底片评定范围内的黑度D＞2.5时，透过底片评定范围内的亮度应

不低于10cd/m2，这一规定与检测技术等级有关。

（×）16．JB/T4730.1－20XX年标准规定：采用同种检测方法按

不同检测工艺