- 1、本文档共6页,可阅读全部内容。
- 2、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。
- 3、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载。
- 4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
- 5、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
- 6、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 7、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 8、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
不飞则已,一飞冲天;不鸣则已,一鸣惊人。——《韩非子》
质子激发X荧光分析法
几年过后,我国发展起来一门核分析新技术——质子激发X荧光分析法,它具有快速、无
损伤、多元素、高灵敏度等优点。所谓质子激发X荧光分析法,就是用高能质子束直接轰
击被测样品的表面,当被测样品受到高能质子束轰击时,其绕原子核运转的内层电子被打
掉,这时外层能量较高的电子就跃迁到能量较低的内层填补空位,并以各种形式将多余的能
量释放出来,其中包括一种叫特征X射线的。不同的金属元素发出不同波长的特征x射线。
因此,只要是测得被分析样品发出的各种特征X射线的波长,就可以知道这个样品由哪儿
种金属元素组成。同时,从测得的各种特征X射线的强度,通过计算便能弄清各种金属元
素的含量。一般测定一个部位只要几分钟,而且在被测样品上不留下任何痕迹。
X射线荧光分析
X射线是1895年被伦琴发现的。后来人们用X射线激发元素时,发现物质
可发射特征X射线,奠定了X荧光光谱作为元素成分分析的基础。随着激发源和
X射线探测技术的发展,X射线分析已经从原来用X射线管、放射源激发的X荧
光分析,发展到70年代用带电粒子激发X射线(简称PIXE),近些年又发展了
同步辐射X荧光分析;从用晶体和正比计数器等测量X射线,发展到用半导体探
测器测量X射线。特别典型和常用的是质子激发的X射线分析,已经成为一种高
灵敏度、非破坏性、多元素定量分析的重要工具,在生物医学、环境保护、考古
学等许多研究领域中非常有用。
简要地说,PIXE分析是用一定能量的质子、X射线或重离子轰击样品,从样
品原子中激发出特征X射线,并用X射线波谱仪或能谱仪测量这些特征X射线的
波长或能量,从而判定样品中各元素的种类;由测得的特征X射线的强度,以及
电离截面、荧光产额、X射线的吸收等数据,确定样品中各元素的含量。
特征X射线产生的先决条件是原子内壳层存在空穴,入射粒子与原子作用产
生空穴的几率称为电离截面,它是X射线分析技术中元素定量分析的重要参数,
与入射粒子的种类和能量以及靶元素有关。
PIXE分析的实验技术比较复杂,涉及到样品制备、实验条件的选择、定量
分析和数据处理方法等方面。
样品制备是X荧光分析中的一个重要环节。它包括靶衬底材料的选择、采
样方法、样品加工和制靶等程序,特别要注意操作过程中预防沾污,以及抗辐照、
导电、便于测量等因素。一般选用低本底、抗辐照的有机薄膜做衬底;取样过
程所用器具要经严格清洁处理;生物样品要经过粉碎、灰化、酸溶解等不同的手
段加工处理;制样时要加入已知浓度的参考元素作为内标元素,以便于作定量
分析时相对比较,常用Y、Ag、In等生物样品中不含的元素作内标元素,用聚苯
乙烯溶液把样品调匀后滴到有机膜上制成薄靶,同时也制备一些本底靶。
为提高X射线分析方法的灵敏度,必须选择最佳的实验条件:如选择质子作
为入射粒子,轰击能量一般取1~3MeV,既考虑降低本底,又要尽可能地增大X
射线的产生截面;束流强度不能太大;样品也不能太厚,厚样品的修正可能引进
误差;另外,探测器应放置在X射线产额较大的方向和位置上。
不飞则已,一飞冲天;不鸣则已,一鸣惊人。——《韩非子》
定量分析主要包括X射线能谱分解和元素浓度计算,也涉及到一些实验方法
和数据处理方法。实验测得的X射线能谱包含着许多元素的特征X射线谱,还有
逃逸峰、康普顿散射峰、特征谱线的重叠峰(如重元素的L和M系谱线与轻元素
K系谱线)、高计数率时出现的相加峰等,X射线谱相当复杂,必须用计
文档评论(0)