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IGCT相模块的测试系统及方法发明专利.pdfVIP

IGCT相模块的测试系统及方法发明专利.pdf

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(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN112595948A

(43)申请公布日2021.04.02

(21)申请号202011466908.3

(22)申请日2020.12.14

(71)申请人西门子工厂自动化工程有限公司

地址100016北京市朝阳区酒仙桥东路1号

(72)发明人管华明高永李建坤

(51)Int.Cl.

G01R31/26(2014.01)

权利要求书3页说明书11页附图3页

(54)发明名称

IGCT相模块的测试系统及方法

(57)摘要

本发明提供了IGCT相模块的测试系统及方

法,该IGCT相模块的测试系统包括:光信号处理

模块、IGCT相模块、信号检测模块、高压电源以及

限流部件;信号检测模块、高压电源以及限流部

件串联在IGCT相模块的两端;高压电源,用于输

出高压电源信号;光信号处理模块,用于连接到

至少两个IGCT开关模块,向至少两个IGCT开关模

块中的待测试IGCT开关模块非持续性输出光触

发信号,以控制待测试IGCT开关模块非持续导

通;以及向至少两个IGCT开关模块中的除待测试

IGCT开关模块之外的其他IGCT开关模块持续输

出光触发信号,以控制该其他IGCT开关模块持续

A导通;信号检测模块,用于进行信号检测,并输出

8信号检测结果。本发明能够测试IGCT相模块在高

4

9

5压条件工作时能否满足业务要求。

9

5

2

1

1

N

C

CN112595948A权利要求书1/3页

1.IGCT相模块的测试系统,包括:一个光信号处理模块、一个IGCT相模块、一个信号检

测模块、一个高压电源以及一个限流部件;

其中,所述IGCT相模块中包括至少两个IGCT开关模块;

所述信号检测模块、所述高压电源以及所述限流部件串联在所述IGCT相模块的两端;

所述高压电源,用于输出高压电源信号;

所述光信号处理模块,用于连接到所述至少两个IGCT开关模块,向所述至少两个IGCT

开关模块中的待测试IGCT开关模块非持续性输出光触发信号,以控制所述待测试IGCT开关

模块非持续导通;以及向至少两个IGCT开关模块中的除所述待测试IGCT开关模块之外的其

他IGCT开关模块持续输出光触发信号,以控制该其他IGCT开关模块持续导通;

所述信号检测模块,用于进行信号检测,并输出信号检测结果,所述信号检测结果用于

得到所述待测试IGCT开关模块的测试结果。

2.根据权利要求1所述的系统,其中,所述光信号处理模块以间断式输出光触发信号的

方式执行所述的非持续性输出光触发信号,以控制所述待测试IGCT开关模块间断式导通及

断开;

所述信号检测模块,用于进行信号的高低电平变化的检测,并输出信号的高低电平变

化的检测结果。

3.根据权利要求2所述的系统,进一步包括:一个第一开关情况分析模块;

所述第一开关情况分析模块,用于根据所述信号检测模块输出的信号的高低电平变化

的检测结果,确定所述信号从高电平变化到低电平所耗用的第一时间长度;判断该第一时

间长度是否不大于预设的关断时延,如果是,则确定所述待测试IGCT开关模块的开关情况

满足开关要求,否则,确定所述待测试IGCT开关模块的开关情况不满足开关要求。

4.根据权利要求2所述的系统,进一步包括:一个第二开关情况分析模块;

所述第二开关情况分析模块,用于根据所述信号检测模块输出的信号的高低电平变化

的检测结果,确定所述信号从低电平变化到高电平所耗用的第二时间长度;判断该第二时

间长度是否不大于预设的导通时延,如果是,则确定所述待测试IGCT开关模块的开关情况

满足开关要求,否则,确定所述待测试IGCT开关模块的开关情况不满足开关要

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