【英语版】国际标准 ISO/IEC 10373-6:2001/AMD 4:2006 EN 识别卡 测试方法 第6部分：感应卡 修正案 4：PCD 射频接口和 PICC 交变磁场暴露的附加测试方法 Identification cards — Test methods — Part 6: Proximity cards — Amendment 4: Additional test methods for PCD RF interface and PICC alternating field exp.pdf

ISO/IEC10373-6:2001/Amd4:2006是关于识别卡的标准，它规定了测试方法，特别是关于近场卡（ProximityCards，简称PICC）的测试方法。该标准分为两部分：标准的主要部分（Part6）和修正部分（Amd4）。修正部分主要涉及了近场卡RF接口的额外测试方法和近场卡的交替磁场暴露测试。

在标准的识别卡部分，主要是规定了卡片的基本性能和功能测试，包括物理特性、防伪措施、数据传输、错误处理等。而修正部分则更关注于卡片的特殊功能和接口性能的测试，如RF接口的特性和性能测试，以及近场卡的交替磁场暴露测试。

RF接口测试主要是对卡片与读卡器之间的无线通信接口进行测试，以确保卡片能够正确地接收和发送数据。测试可能包括接口的电气特性、协议符合性、数据传输速率等方面的内容。

交替磁场暴露测试是对卡片在交替磁场环境下的性能进行测试。这涉及到卡片在强磁场下的工作表现，如数据传输的稳定性、卡片功能的完整性等。

ISO/IEC10373-6:2001/Amd4:2006标准提供了对近场卡和其RF接口进行全面测试的方法，以确保这些卡片在各种环境和条件下都能正常工作。