《微观应力测定》课件.pptVIP

*****************课程简介与学习目标课程介绍本课程旨在介绍微观应力测定的基本原理、常用方法和应用领域，并帮助学生掌握应力测量技术，为未来从事材料科学、工程技术等领域的研究工作打下基础。学习目标理解微观应力的概念和重要性掌握常用的微观应力测量方法学会分析应力测量结果，并应用于材料性能预测和失效分析微观应力测定的重要性材料失效分析应力是材料失效的重要因素之一。微观应力测定可揭示材料内部的应力状态，帮助理解材料失效机理。电子器件性能微观应力会影响电子器件的性能和可靠性。微观应力测定有助于优化器件设计，提高器件可靠性。结构安全评估微观应力测定可用于评估结构材料的应力状态，保证结构安全和可靠性。主要应用领域1材料科学微观应力测量可以帮助研究材料的疲劳和断裂行为，促进材料的改进和创新。2制造业在制造过程中，微观应力测量可以优化加工工艺，提高产品质量和可靠性。3航空航天微观应力测量可以评估航天器部件的疲劳强度和安全性能，确保飞行安全。4医疗器械微观应力测量可以检测医疗器械的内部应力状态，确保器械安全性和可靠性。微观应力测定的概念微观应力是指材料内部微观尺度上的应力状态。材料内部存在着各种微观结构，例如晶界、位错、第二相颗粒等，这些微观结构的存在会导致材料内部存在应力集中，从而影响材料的性能。微观应力测定是通过测量材料内部微观结构的应力状态来研究材料的性能和行为。微观应力测定技术能够帮助我们更好地理解材料的变形机制、断裂机理以及疲劳失效过程。应力的基本概念力应力是作用于物体表面上的外力，以单位面积表示。形变应力会导致物体的变形，包括拉伸、压缩、弯曲等。压强应力也称为压强，通常用帕斯卡(Pa)作为单位。种类应力可以是正应力（拉伸或压缩）或剪应力（切向力）。应力测试的基本原理1材料内部应力材料内部的应力状态会影响其力学性能2应力测试方法测量材料内部应力的大小和分布3应力测试结果分析材料内部应力状态对性能的影响应力测试的基本原理是利用材料的力学特性，测量材料内部的应力状态，进而分析材料的力学性能。应力测试方法通常包括：X射线衍射应力测量法、电子背散射衍射应力测量法、微区显微镜应力测量法等。这些方法各有优缺点，适用于不同的应用场景。常用的微观应力测量方法X射线衍射应力测量法利用X射线衍射原理，通过测量材料晶格的变形来分析材料内部应力。应用广泛，适用于金属、陶瓷等多种材料。电子背散射衍射应力测量法利用电子背散射衍射（EBSD）技术，分析材料表面微观结构和晶体取向，进而推算材料的残余应力。适用于材料表面、薄膜等。微区显微镜应力测量法利用高分辨显微镜，通过观察材料微观结构的变化来推算材料的应力状态。适用于纳米材料、薄膜等微观尺度的应力测量。X射线衍射应力测量法X射线衍射应力测量法是一种利用X射线照射材料表面，通过分析衍射信号的变化来测定材料内部残余应力的方法。它是一种无损检测方法，可以用于测量金属、陶瓷、聚合物等多种材料的应力，在材料科学、机械工程等领域有着广泛的应用。X射线衍射应力测量原理晶格畸变材料内部应力会引起晶格发生畸变，导致晶面间距发生变化。衍射角变化X射线照射材料表面时，会发生衍射现象，畸变的晶格会使衍射角发生变化。应力测量根据衍射角变化，结合布拉格方程和材料的弹性常数，可以计算出材料内部的应力。X射线应力测量的数学模型模型公式描述应力-应变关系σ=Eε应力与应变的线性关系布拉格方程2dsinθ=nλ衍射角与晶格间距的关系应力引起的晶格畸变Δd/d=ε应力导致晶格间距变化应力计算公式σ=E(Δd/d)基于晶格畸变计算应力X射线应力测量实验步骤1样品制备首先需要对材料样品进行表面处理，例如抛光或清洁，以确保表面平整光滑，并去除杂质或氧化层，以提高衍射信号质量。2X射线衍射测量使用X射线衍射仪对样品进行测量，并记录衍射图谱。衍射图谱包含了材料内部晶格结构信息，可以分析得到晶格参数、应力等信息。3应力计算根据衍射图谱数据，利用应力计算公式计算样品内部的应力值，并进行数据分析和结果解释。电子背散射衍射应力测量法电子背散射衍射（EBSD）应力测量法是一种重要的微观应力测量技术。EBSD通过分析材料表面电子背散射衍射花样，获取材料的晶体取向和晶格畸变信息。然后利用这些信息来计算材料的应力状态。EBSD技术可以实现对材料微观应力的定量分析，其分辨率可达纳米级，广泛应用于材料科学、纳米科技、航空航天等领域。电子背散射衍射原理1电子束照射样品表面激发2衍射图案晶体结构信息3晶体取向应力