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工程师
经验技巧
智能引导式视竞
行多张图像分析
LuUmiTrax
E检测薄膜上的刻印
“检测金属铺件表再的钠隐
,人
忽略清洗液残留、污点、细微纹路等因素,仅检测凹痕和缺去除对检测造成不良影响的光晕,以实现稳定检测。
口等严重缺陷。
E检测金属铸件表面的刻印E检测印刷上的缺陷
国国
从随机的铸件表面中,突显具更大四凸信息的刻印部分。不受背景复杂印刷的影响,生成仅抽取缺陷的图像。
E检测热封口宽度E检测有无密封胶带
SS
ea
通过颜色和浓淡状态,捕捉不易发生变化的密封部上凸信即使受工件倾斜的影响突然出现正反射现象,也可消除光
息,并进行抽取。时,实现稳定检测。
解决获取稳定图像的课题
工件的表面状态各种各样周围环境《环境光)的影响搬送状态引起工件状态变动
新开发的【LumiTraxr】系统即可解决
配备超高速拍摄配备超高亮度LED瞬间分析多张图像生成
CMOS感光元件分区点亮控制电路形状、纹理提取图像
专用控制ICGOGO
CA-HXXCADRWXXDRMXX/XG-X2000/
相机DQPxX/DQW40X照明CV-X400控制器
国【LumiTrax]原理
1超高速执行来自不同方向的照明亮灯科拍摄
人
二二
C人mg右方照明图像左方照明图像下方照明图像
名c岂
三C三An)(
F
风下二
三元
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2分析各像素的亮度值变化情况,并在分离“形状〈叫凸)““纹理〈图样)”后,进行图像化处理
纹理图像形状图像像素A的像素C的
亮度值|-”亮度值
和EE
像素B的Re像素D的ii
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