实验1 BJT直流参数测试.pdf

实验一、用晶体管特性图示仪测量晶体管的特性参数

一、引言

晶体管在半导体器件中占有重要的地位，也是组成集成电路的基本元件。晶

体管的各种特性参数可以通过专用仪器--晶体管特性图示仪进行直接测量。了解

和测量实际的晶体管的各种性能参数不仅有助于掌握晶体管的工作机理，而且还

可以分析造成各种器件失败的原因，晶体管特性图示仪是半导体工艺生产线上最

常用的一种工艺质量检测工具。

本实验的目的是：了解晶体管特性图示仪的工作原理；学会正确使用晶体管

特性图示仪；测量共发射极晶体管的输入特性、输出特性、反向击穿特性和饱和

压降等直流特性。

二、晶体管特性图示仪的工作原理和基本结构

晶体管的输出特性曲线如图1所示，这是一组曲线族，对于其中任一条曲线，

相当于I=常数（即基极电流I不变）。曲线显示出集电极与发射极之间的电压

bb

V增加时，集电极电流I的变化。因此，为了显示一条特性曲线，可以采用如

ccc

图2所示的方法，既固定基极电流I为：

b

EV

Ibbe（1）

bR

b

图1共射晶体管输出特性曲线图2共射晶体管接法

在集电极到发射极的回路中，接入一个锯齿波电压发生器E和一个小的电

c

1

阻R，晶体管发射极接地。由于电阻R很小，锯齿波电压实际上可以看成是加

c

在晶体管的集电极和发射极之间。晶体管的集电极电流从电阻R上流过，电阻

c

R上的电压降就正比于I。如果把晶体管的c、e两点接到示波管的x偏转板上，

cc

把电阻R两端接到示波管的y偏转板上，示波器便显示出晶体管的I随V变化

cccc

的曲线。（为了保证测量的准确性，电阻R应该很小）。用这种方法只能显示出

c

一条特性曲线，因为此时晶体管的基极电流I是固定不变的。

b

如果要测量整个特性曲线族，则要求基极电流I改变。基极电流I的改变

bb

采用阶梯变化，每一个阶梯维持的时间正好等于作用在集电极的锯齿波电压的周

期，如图3所示。阶梯电压每跳一级，电流I便增加一级。（每一级阶梯的增幅

b

可根据不同的晶体管的做相应的调整）。

晶体管特性图示仪便是按照上述原理设计的，它包括阶梯电压发生器（供基

极或发射极阶梯波）、锯齿波电压发生器（供集电极扫描电压）、x轴放大器、y

轴放大器、示波管系统等组成，其单元作用如图4所示。作用在垂直偏转板上的

除I（实际上是IR）外，还可以是基极电压、基极电流、外接或校正电压。由

ccc

于x轴和y轴作用选择的不同，在示波器荧光屏上显示出的特性就完全不同。例

如：若x轴作用为集电极电压，y轴作用选择集电极电流，得到晶体管的输出特

性曲线；若x轴作用为基极电流，y轴作用选择集电极电流，得到晶体管的电流

增益特性（即β特性）；若y轴作用为基极电流，x轴作用是基极电流，得到