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射线三级证书试题及答案

一、单选题（130题）

1.射线的能量越高，其穿透物质的能力（）。

A.越弱

B.越强

C.不变

D.不一定

答案：B

解析：射线能量越高，其粒子或光子携带的能量越大，越容易克服物质原子的束缚，穿透物质的能力就越强。

2.以下哪种射线不属于电离辐射（）。

A.α射线

B.β射线

C.红外线

D.γ射线

答案：C

解析：红外线是一种非电离辐射，α射线、β射线和γ射线都属于电离辐射，它们能使物质发生电离。

3.射线防护的基本原则不包括（）。

A.实践的正当性

B.防护的最优化

C.个人剂量限值

D.减少人员培训

答案：D

解析：射线防护基本原则包括实践的正当性、防护的最优化和个人剂量限值，人员培训是保障防护措施有效实施的重要环节，不能减少。

4.射线检测中，底片上出现的圆形黑色影像，可能是（）缺陷。

A.裂纹

B.气孔

C.夹渣

D.未焊透

答案：B

解析：气孔在底片上通常表现为圆形或椭圆形的黑色影像，裂纹一般是细长的黑线，夹渣多为不规则的黑色影像，未焊透多为连续或断续的直线状黑色影像。

5.放射性物质的半衰期是指（）。

A.物质完全衰变所需的时间

B.物质衰变一半所需的时间

C.物质开始衰变到结束的时间

D.物质衰变四分之一所需的时间

答案：B

解析：半衰期的定义就是放射性物质衰变一半所需的时间。

6.射线检测中，使用增感屏的目的是（）。

A.提高射线的能量

B.降低射线的能量

C.缩短曝光时间，提高底片的黑度

D.增加射线的散射

答案：C

解析：增感屏可以吸收射线能量并转换为可见光，从而缩短曝光时间，提高底片的黑度。

7.当射线束中心轴与被检工件表面法线的夹角称为（）。

A.入射角

B.折射角

C.散射角

D.反射角

答案：A

解析：射线束中心轴与被检工件表面法线的夹角就是入射角。

8.以下哪种射线源的能量是固定的（）。

A.X射线机

B.加速器

C.放射性同位素

D.以上都不是

答案：C

解析：放射性同位素衰变时释放的射线能量是固定的，X射线机和加速器产生的射线能量可以通过调节参数改变。

9.射线检测中，底片的黑度范围一般要求在（）。

A.0.51.0

B.1.53.5

C.4.05.0

D.5.0以上

答案：B

解析：底片黑度在1.53.5范围内能较好地显示缺陷信息。

10.射线防护中，距离防护的原理是（）。

A.射线强度与距离的平方成反比

B.射线强度与距离成正比

C.射线强度与距离的立方成反比

D.射线强度与距离无关

答案：A

解析：根据平方反比定律，射线强度与距离的平方成反比，增加距离可以有效降低射线剂量。

11.射线检测时，对厚度差较大的工件，为了获得均匀的底片黑度，可采用（）。

A.双胶片技术

B.提高管电压

C.降低管电流

D.增加曝光时间

答案：A

解析：双胶片技术可以补偿厚度差较大工件不同部位的曝光差异，获得均匀的底片黑度。

12.放射性物质的活度单位是（）。

A.库仑

B.贝克勒尔

C.焦耳

D.伏特

答案：B

解析：贝克勒尔是放射性物质活度的单位，库仑是电荷量单位，焦耳是能量单位，伏特是电压单位。

13.射线检测中，散射线会使底片的（）。

A.对比度提高

B.清晰度提高

C.对比度降低

D.黑度降低

答案：C

解析：散射线会使底片上产生额外的曝光，降低底片的对比度。

14.射线检测中，底片上的伪缺陷是指（）。

A.真实存在的缺陷

B.由于操作或其他原因产生的非真实缺陷影像

C.尺寸很小的缺陷

D.无法检测到的缺陷

答案：B

解析：伪缺陷是由于操作不当、胶片处理等原因产生的非真实缺陷影像。

15.射线检测中，常用的像质计有（）。

A.线型像质计

B.孔型像质计

C.槽型像质计

D.以上都是

答案：D

解析：常用的像质计有线型像质计、孔型像质计和槽型像质计。

16.射线检测中，当射线源焦点尺寸增大时，会使底片的（）。

A.几何不清晰度增大

B.几何不清晰度减小

C.对比度增大

D.黑度增大

答案：A

解析：射线源焦点尺寸增大，会导致几何不清晰度增大，影响底片的清晰度。

17.射线防护中，屏蔽防护的材料一般选用（）。

A.铅

B.铝

C.木材

D.塑料

答案：A

解析：铅对射线有很好的屏蔽作用，常用于射线防护。

18.射线检测中，底片的水洗时间一般为（）。

A.12分钟

B.510分钟

C.1520分钟

D.30分钟以上

答案：C

解析：底片水洗时间一般为1520分钟，以去除残留的药液。

19.射线