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工艺与制造ProcessandFabrication

芯片ATE测试CP电修调的优化分析

朱刚俊，张洪俞

（南京微盟电子有限公司，江苏210042）

摘要：阐述一种芯片ATE测试之CP电修调的测试优化方法，该方法使测试效率明显提高，极大程度降低

芯片的测试成本，对测试机台的硬件要求不高，可以适用于各种不同测试平台的CP测试。

关键词：集成电路，Trim，Fuse，CPTest，电修调，烧铝。

中图分类号：TN405，TN407文章编号：1674-2583(2024)03-0062-02

DOI：10.19339/j.issn.1674-2583.2024.03.025

文献引用格式：朱刚俊，张洪俞.芯片ATE测试CP电修调的优化分析[J].集成电路应用,2024,41(03):62-

63.

AnalysisofChipATETestingCPElectricalRepairand

AdjustmentOptimization

ZHUGangjun,ZHANGHongyu

(NanjingWeimengElectronicsCo.,Ltd.,Jiangsu210042,China.)

Abstract—Thispaperdescribesatestingoptim