JJF 1702-2018 国家检定校准 规范.docxVIP

中华人民共和国国家计量技术规范

JJF1702—2018

、平面源校准规范

α

β

CalibrationSpecificationforα、βPlanesSource

2018-02-27发布

2018-08-27实施

国家质量监督检验检疫总局

发布

JJF1702—2018

α、β平面源校准规范

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JJF1702—2018

CalibrationSpecificationfor

α、βPlanesSources

代替

—

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JJG7881992

归口单位:全国电离辐射计量技术委员会

起草单位:上海市计量测试技术研究院

中国计量科学研究院

本规范委托全国电离辐射计量技术委员会负责解释

JJF1702—2018

本规范起草人:

唐方东(上海市计量测试技术研究院)

何林锋(上海市计量测试技术研究院)

梁珺成(中国计量科学研究院)

徐一鹤(上海市计量测试技术研究院)

张明(中国计量科学研究院)

刘皓然(中国计量科学研究院)

JJF1702—2018

目

录

引言………………………(Ⅱ)

范围……………………(1)

引用文件………………(1)

术语和计量单位………………………(1)

1

2

3

术语…………………(1)

计量单位……………(1)

3.1

3.2

概述……………………(1)

计量特性………………(1)

4

5

表面发射率…………(1)

表面发射率的不均匀性……………(2)

5.1

5.2

校准条件………………(2)

6

环境条件……………(2)

测量标准……………(2)

6.1

6.2

校准项目和校准方法…………………(2)

7

表面发射率…………(2)

表面发射率的不均匀性……………(3)

7.1

7.2

校准结果表达…………(4)

复校时间间隔…………(4)

8

9

附录Aα、β平面源校准记录推荐格式………………(5)

附录Bα、β平面源校准证书内页内容………………(6)

附录Cβ平面源表面发射率校准结果不确定度评定示例…………(7)

Ⅰ

JJF1702—2018

引

言

本规范按照JJF1071—2010《国家计量校准规范编写规则》编写。

与JJG788—1992相比,除编辑性修改外,本规范主要技术变化如下:

———由检定规程改为校准规范;

———名称由“、标准平面源”改为“、平面源校准规范”;

α

α

β

β

———将原规程检定项目“表面发射率和活度”修改为校准项目“表面发射率”;

———适用范围中增加对β粒子能量范围的限定;

———平面源表面发射率的计算由绝对测量的计算方式修改为适用于绝对和相对测量

的计算方式;

———删除原规程检定项目“非活性面的放射性污染”;

———修改了标准平面源表面发射率不均匀性的测量条件要求与计算方法。

本规范的历次发布情况如下:

JJG788—1992。

Ⅱ

JJF1702—2018

α、β平面源校准规范

范围

1

本规范适用于表面发射率为(

10~10)min-1的α平面源和表面发射率为(

3

2

6

10~

10

6

)min-1的β平面源的校准,β粒子的最大能量大于等于150keV。

引用文件

2

本规范引用下列文件:

JJF1001—2011

通用计量术语及定义

GBT4960.1—2010

/

核科学技术术语

第1部分:核物理与核化学

凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本规范;凡是不注日期的