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ICS31.080
CCSL40/49
团体标准
T/CASAS037—2024
台
平
息
碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管
信
(SiCMOSFET)栅极电荷测试方法
准
Gatechargetestmethodforsiliconcarbidemetal‑oxidesemiconductorfield
effecttransistors(SiCMOSFET)
标
体
团
国
全
2024‑11‑19发布2024‑11‑19实施
第三代半导体产业技术创新战略联盟发布
中国标准出版社出版
T/CASAS037—2024
目次
前言……………………………Ⅲ
台
引言……………………………Ⅳ
1范围…………………………1
2规范性引用文件……………1
平
3术语和定义…………………1
4测试原理……………………3
4.1栅极电荷测试基本原理………………3
息
4.2感性负载(双脉冲)电路测试原理……………………4
4.3阻性负载(单脉冲)电路测试原理……………………5
5测试条件……………………6
6测试流程……………………6
信
6.1感性负载(双脉冲)测试流程…………6
6.2阻性负载(单脉冲)测试流程…………6
7测试数据处理………………7
准
7.1感性负载(双脉冲)测试数据处理……………………7
7.2阻性负载(
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