超微粉体的形貌及结构分析.pdfVIP

超微粉体的形貌及结构分析

1、晶态的表征

晶态的表征最常用的方法是XRD。对于简单的晶体结构，根据

粉末衍射图可以确定晶胞中的原子位置、晶胞参数以及晶胞中的原子

数。高分辨率X衍射粉末（HRXRD)用于晶体结构的研究，可得到比

XRD更准确的结构信息，获得有关单晶胞内相关物质的元素组成比、

尺寸、原子间距及键长等超微粉体的精确结构方面的数据与信息。

2、扫描电镜

扫描电子显微镜（SEM）的原理是：聚焦电子束在样品上扫描时

激发的某些物理信号（如二次电子），来调制一个同步扫描的显象管

在相应位置的亮度而成像。SEM是常用的材料表面测试仪器，其放

大倍数高达几十万倍。其样品的制备方法是在表面喷金，然后进行测

试。

3、透射电镜

透射电子显微镜（TEM）的原理是：以高能电子（50～

200keV）穿透样品，由于样品不同位置的电子透过强度不同或电子

透过晶体样品的衍射方向不同，经过后面电磁透射的放大后，在荧光

屏上显示出图像。透射电镜在加速电场100KeV下，电子的波长3.7

μm。TEM分辨率高达0.3nm，晶格分辨率达0.1～0.2nm。

4、扫描探针显微镜

扫描探针显微镜（SPM)以扫描隧道电子显微镜（STM)、原子力

显微镜（AFM)、扫描显微镜（SFM)、弹道电子发射显微镜

（BEEM)、扫描近场光学显微镜（SNOM)等新型系列扫描探针显微

镜为主要实验技术，利用样品与探针的相互作用在纳米级甚至原子级

水平上研究物质表面的原子和分子的几何结构以及与电子行为有关

的性质。