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《GB_T 42975 - 2023半导体集成电路 驱动器测试方法》最新解读.pptxVIP

《GB_T 42975 - 2023半导体集成电路 驱动器测试方法》最新解读.pptx

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    《GB/T42975-2023半导体集成电路驱动器测试方法》

    最新解读

    一、标准制定背景与意义深度剖析

    （一）半导体技术发展催生标准革新

    随着半导体技术朝着高集成度、高速化迅猛发展，驱动器作为半导体集成电路中的关键部件，其性能直接影响到整个系统的运行效率与稳定性。在过去，不同企业对驱动器的测试方法缺乏统一规范，导致产品质量参差不齐，市场竞争无序。而如今，5G通信、人工智能、物联网等新兴领域的崛起，对驱动器的性能提出了更为严苛的要求，迫切需要一套科学、统一的测试标准来规范行业发展。例如在5G基站中，需要驱动器具备高速、;

    低延迟的信号

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