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基于磁光克尔效应测量材料表面磁特性方法的研究

摘要

在磁性材料广泛应用的今天，精确测量磁性材料的磁性参数可以很好地帮助我们来

选择合适的磁性材料。磁光克尔效应（Magneto-opticKerreffect）是一种利用入射光偏振

特性来探测磁性物质的磁学特性的一种新方法。利用磁光克尔效应探测技术具有精度高、

响应快、无损检测等优势，是一种新型的高精度、高灵敏度的检测技术。本论文拟在前

期工作基础上，利用磁光克尔效应检测技术，实现对磁光克尔旋转角的测量，从而获得

磁滞回线、饱和磁化强度等磁性参量。

首先，基于磁光克尔效应的基本理论，通过理论计算，得到磁光克尔旋转角与磁性

材料的磁化强度成正比例，并给出磁光克尔旋转角的计算公式。从电磁线圈磁场的原理

出发，以电工纯铁为基础，设计出一种以1~10A的直流电源为动力，能够产生最大大

约为350mT的磁场。采用偏振片、波长为650nm的半导体激光器、孔径光阑和光电探

测器等光学元件，设计出相应的光路，并给出实验测量方案。在此基础上，采用软件对

所设计的磁场模块进行了模拟，并对其进行了验证。

其次，引入光学斩波器与数字锁相放大器，并确定数字锁相放大器的最佳参数，如

数字锁相放大器的采样频率为100kHz、低通滤波器的阶数为512阶。利用光学斩波器

的调制盘将连续的激光变成脉冲激光，使光电探测器检测到的信号从直流信号变为交流

信号。通过光学斩波器调制后生成的信号作为锁相放大器的参考信号与待测信号进行相

敏检测后经过低通滤波器来滤除高频部分，还原待测信号。数字锁相放大器的引入大大

提高了对待测信号的精度。

最后，将光学系统、磁场发生系统与信号处理系统连接成一套完整的磁光克尔效应

探测系统，对坡莫合金薄膜的磁化强度进行了测量，并绘制其磁滞回线。坡莫合金的磁

化强度为313mT，误差为1.7%。

关键词：磁光克尔效应；磁场仿真；数字锁相放大器；磁滞回线

基于磁光克尔效应测量材料表面磁特性方法的研究

Abstract

Nowadays,withthewidespreadapplicationofmagneticmaterials,precisemeasurement

ofthemagneticparametersofmagneticmaterialscangreatlyassistusinselectingsuitable

magneticmaterials.MagnetoopticalKerreffectisanewmethodthatutilizesthepolarization

characteristicsofincidentlighttodetectthemagneticpropertiesofmagneticmaterials.Theuse

ofmagneto-opticalKerreffectdetectiontechnologyhasadvantagessuchashighaccuracy,fast

response,andnon-destructivetesting,makingitanewtypeofhigh-precisionandhigh

sensitivitydetectiontechnology.Basedonthepreviouswork,thispaperintendstousethe

magneto-opticalKerreffectdetectiontechnologytomeasurethemagneto-opticalKerrrotation

angle,soastoobtainthemagneticparameterssuchashysteresisloopandsaturation

magnetization.

Firstly,basedonthebasictheoryofmagneto-optical