Boosting算法赋能密封电子元器件组件信号识别:技术创新与应用突破.docx

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Boosting算法赋能密封电子元器件组件信号识别:技术创新与应用突破

一、引言

1.1研究背景与意义

在航天、军事等关键领域,电子设备的可靠性关乎任务成败与系统安全,密封电子元器件作为其核心组成部分,对其可靠性的要求达到了极高标准。这些领域的电子设备常常面临极端复杂和恶劣的工作环境,如高温、高湿、强振动、冲击以及强辐射等。在这样的条件下,即使是微小的故障也可能引发严重后果,因此,确保密封电子元器件的可靠性是保障整个系统稳定运行的基础。

多余物是影响密封电子元器件可靠性的关键因素之一。在生产制造过程中,由于工艺水平的限制或操作不当,可能会有金属碎屑、焊接飞溅物、灰尘颗粒等多余物残留在元器件

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