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新解读《GB_T 17421.10 - 2021机床检验通则 第10部分：数控机床探测系统测量性能的测定》最新解读.pptxVIP

新解读《GB_T 17421.10 - 2021机床检验通则 第10部分：数控机床探测系统测量性能的测定》最新解读.pptx

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    《GB/T17421.10-2021机床检验通则第10部分：数

    控机床探测系统测量性能的测定》最新解读

    一、标准核心要点速览

    （一）适用范围精准剖析

    本标准聚焦于数控机床集成式接触式探测系统（离散点模式）的性能评估。明确排除扫描模式或非接触式探测系统，为标准的应用场景划定了清晰边界。在制造业中，不同类型的探测系统应用于不同的加工需求。例如，在精密模具加工中，离散点模式的接触式探测系统能够精准测量关键点位的尺寸，确保模具的高精度制造；而在汽车零部件的批量生产中，若采用非接触式探测系统进行快速扫描测量，虽能提高检测效率，但并不在本标准的考量范围内。这种

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