光电直接检测系统课件.pptVIP

辨向原理：用兩個光電元件相距B/4安裝（相當於相差90°空間角，B:2π=B/4:π/2），如圖所示，可以解決辨向問題。當條紋上移時，V2落後於V190°。當條紋下移時，V2超前於V190°。因此，由V1、V2之間的相位關係可以判別運動方向。細分技術（解決精度問題）當使用一個光電池通過判斷信號週期的方法來進行位移測量時，最小分辨力為1個柵距。為了提高測量的精度，提高分辨力，可使柵距減小，即增加刻線密度。另一種方法是在雙光電元件的基礎上，經過信號調節環節對信號進行細分，其電路框圖如圖所示。莫爾條紋的應用莫爾條紋測長儀分長光柵和圓光柵兩種，光刻密度相同，通常為25，50，100，250條/mm。被廣泛地應用於：光柵數顯表光柵感測器在位置控制中的應用軸環式數顯表機械測長和數控機床中。光電直接檢測系統相干檢測，光源：相干光源原理：利用光的振幅、頻率、相位攜帶資訊，檢測時需要用光波相干原理。調製方法：光振幅調製、相位調製，頻率調製測量精度（靈敏度）更高，作用距離更遠。非相干檢測，光源：非相干或相干光源原理：利用光強度攜帶資訊，將光強度轉換為電信號，解調電路檢出資訊。調製方法：光強度調製、偏振調製。直接檢測是一種簡單實用的方法。光外差檢測直接檢測光電檢測系統5.1光電直接檢測系統的基本工作原理光電直接檢測系統是將待光信號直接入射到光檢測器光敏面上，光檢測器回應光輻射強度（幅度）並輸出相應的電流和電壓。檢測系統經光學天線或直接由檢測器接收光信號，前端還可經過頻率濾波和空間濾波等處理。強度調製器光學天線光學通道接收天線及光電檢測器光電信號處理器光源信號發射機背景雜訊場接收機電路雜訊回收的資訊強度調製直接檢測模型5.1光電直接檢測系統的基本工作原理假定入射光信號電場為：5-1光場平均光功率為：表示的時間平均值；5-2光檢測器輸出電流為：稱為光電變換比例常數5-3光檢測器的平方律特性：光電流正比於光電場振幅的平方，電輸出功率正比於入射光功率的平方。5.1光電直接檢測系統的基本工作原理若光檢測器負載電阻RL，則光檢測器輸出電功率為：5-4如果入射光是調幅波，即其中d(t)為調製信號，可推導出光檢測器的輸出電流為:5-5式中第一項為直流項，若光檢測器輸出端有隔直電容，則輸出光電流只包含第二項，稱為包絡檢測。5-65.2光電直接檢測系統的基本特性5.2.1直接檢測系統的信噪比—衡量模擬系統好壞及靈敏度光檢測器輸出的總功率包括信號電功率和雜訊功率，可表示為：5-7考慮到信號和雜訊的獨立性，有：5-8由信噪比定義，輸出功率信噪比為：5-95.2.1直接檢測系統的信噪比說明輸出信噪比是輸入信噪比的平方，可見，直接檢測系統不適用於輸入信噪比小於1或微弱光信號的檢測。輸出信噪比是輸入信噪比的一半。即經過光電轉換，信噪比損失了3dB。實際應用中可以接受。可見，直接檢測方法不能改善輸入信噪比，適宜不是很微弱的光信號檢測。但這種方法簡單，易於實現，可靠性高，成本低，得到廣泛應用。(1)若，則有：5-10(2)若，則有：5-11在數字式光電系統中，雜訊對系統的影響常使用“誤碼率”來衡量。誤碼率仍然與信噪比有關。信噪比高，誤碼率低。由雜訊的概率分佈規律考慮“概率問題”來衡量。5.2.2直接檢測系統的檢測極限及趨近方法考慮直接檢測系統中存在的所有雜訊，則輸出雜訊總功率為：分別為信號光、背景光和暗電流引起的散粒雜訊。為負載電阻和放大器的熱雜訊之和。5-12輸出信噪比為：5-135.2.2直接檢測系統的檢測極限決定掃描熱檢測系統的理論極限①當熱雜訊是直接檢測系統的主要雜訊源時，直接檢測系統受熱雜訊限制，信噪比為：5-14②當散粒雜訊遠大於熱雜訊時，直接檢測系統受散粒雜訊限制，信噪比為：5-15③當背景雜訊是直接檢測系統的主要雜訊源時，直接檢測系統受背景雜訊限制，信噪比為：5-165.2.2直接檢測系統的檢測極限假定光波長λ=0.7μm，檢測器的量子效率η=1，測量帶寬Δf=1，由上式得到系統在量子極限下的最小可檢測功率為④當入射信號光波所引起的雜訊為直接檢測系統的主要雜訊源時，直接檢測系統受信號雜訊限制，這時信噪比為：5-17該式為直流檢測在理論上的極限信噪比，稱為直接檢測系統的量子極限，又稱量子限靈敏度。若用等效雜訊功率NEP值表示，在量子極限下，直接檢測系統理論上可測量的最小功率為：5-18在實際直接檢