基于STS8200测试平台DC-DC降压芯片测试方案设计.docxVIP

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上海建桥学院本科毕业设计(论文)

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基于STS8200测试平台DC-DC降压芯片测试方案设计

摘要

集成电路测试,是集成电路产业链的质量底线和最后防线,建立了半导体公司与用户之间相互信任的桥梁。而如何保证设计出来的芯片性能达到设计指标,如何保证制造出来的芯片达到要求的良率,如何确保测试本身的效率和可靠性,从而提供给客户符合产品规范的、质量合格的产品,这些都要求必须在设计开始的第一时间就要提供完备的测试方案。

本人将在企业实习中,通过STS80200测试平台对DC-DC降压芯片进行性能参数的测试,从而形成一套具有可行性的测试方案;对DC-DC降压芯片进行测试研究,通过学习芯片性能参数,形成测试电路图、验证完电路的可行性后绘制PCB测试版图、搭建测试电路、编写测试程序等从而分析芯片测试结果并解决芯片测试中出现的问题,以达到对DC-DC降压芯片测试的目的。

关键词:集成电路测试,DC-DC降压,STS8200测试机台,测试程序,性能参数

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BasedonSTS8200testplatformDC-DCbuckchiptestschemedesign

Abstract

ICtestingisthebottomlineandlastdefenseoftheICindustrychain,andbuildsabridgeofmutualtrustbetweensemiconductorcompaniesandusers.Andhowtoensurethatthedesignofchipperformancemeetthedesignindex,howtoensurethatmanufacturedthechiptoachievetherequirementsoftheyield,howtoensuretheefficiencyandreliabilityofthetestitself,thustoprovidecustomersinaccordancewithproductspecifications,quality,qualifiedproducts,alloftheserequirementsmustbethefirsttimeatthebeginningofdesignwillprovidecompletetestscheme.

Duringmyinternshipintheenterprise,IwilltesttheperformanceparametersofDC-DCbuckchipthroughSTS80200testplatform,soastoformafeasibletestscheme;ResearchonDC-DCvoltagechiptest,bystudyingthechipperformanceparameters,formationtestingcircuitdiagram,afterverifythefeasibilityofthecircuitdrawingtestforPCBlayoutandbuildingtestcircuit,writeatestprogramtoanalyzethechiptestresultsandsolveproblemsarisingfromthechiptest,inordertoachievethepurposeofDC-DCbuckchiptest.

KeyWords:Integratedcircuittest,DC-DCbuck,STS8200testmachine,testprocedure,performanceparameters

目录

TOC\o1-3\h\z\u摘要 I

Abstract II

引言 5

1我国集成电路行业 6

1.1我国集成电路行业现状 6

1.2课题背景和意义 6

1.3研究的主要内容 7

2STS8200测试平台 7

2.1硬件部分 7

2.1.1系统概述 7

2.1.2平台模块介绍 9

2.1.3工序流程 1

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