- 1、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。。
- 2、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
- 3、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多
试验方案简介
试验目的
1、系统整理出材质损耗与不同溶液、不同化学反映温度准时刻的关系,完善理论依据和标准:
2、摆脱偶发性试验的局限性,探讨多元化溶液配方,查找最优参数:
3、分析不同因素点对作业结果的阻碍,优化工艺流程;
4、为进一步解决小范用问题供给数据参照,提高工作质量和工作效率。
试验可行性
伴随着半导体产业和TFT产业的进展,工业化标准和要求也愈来愈髙,在进展表而处置的进程中也将会遇到更多种类的膜质构造。与此同时,相应的半导体设备和TFT设备淸洗部件的材质和构造也在渐渐的优化和改善,这使得补充试验数据作为参照显得尤其重要。
化学试验本钱低廉,设备简洁,可控变量多
文档评论(0)