电平转换电路中NBTI老化效应的深度剖析与防护策略研究.docx

下载文档

1
0
约2.85万字
约 22页
2025-07-14 发布于上海
举报
版权申诉
保障服务

电平转换电路中NBTI老化效应的深度剖析与防护策略研究.docx

1、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。。
2、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
3、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。

电平转换电路中NBTI老化效应的深度剖析与防护策略研究

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代集成电路设计中，电平转换电路作为关键的基础模块，承担着连接不同电压域的重要任务，其性能直接影响着整个集成电路系统的稳定性与可靠性。随着半导体工艺的不断进步，芯片集成度日益提高，不同功能模块往往需要在不同的电源电压下工作，以实现功耗、性能和成本之间的优化平衡。电平转换电路正是实现不同电压域之间信号准确传输与逻辑转换的桥梁，确保信号在跨越不同电压域时，既能保持正确的逻辑电平，又能满足时序要求，从而保证整个集成电路系统的正常运行。

在各种影响电平转换电路性能的因素中，负偏置温度不稳定性（Negative