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自动测试设备应用中 PhotoMOS 开关的替代方案.docx

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    自动测试设备应用中PhotoMOS开关的替代方案

    在当今科技飞速发展的时代，人工智能（AI）应用呈现出蓬勃发展的态势，其对高性能内存，特别是高带宽内存（HBM）的需求也在持续增长。这一趋势使得内存芯片的设计变得愈发复杂，而自动测试设备（ATE）厂商作为验证内存芯片的关键环节，正面临着前所未有的压力，需要不断提升自身能力以适应这一需求。

    传统上，在\t/data/2025-05-29/_blank存储器晶圆\t/data/2025-05-29/_blank探针电源应用中，PhotoMOS??\t/data/2025-05-29/_blank开关凭借其良好的低电容乘电阻

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