STMicroelectronics 系列：STM32L5 系列 (低功耗)_29.低功耗测试与验证.docxVIP

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29.低功耗测试与验证

29.1低功耗测试的基本概念

低功耗测试是确保STM32L5系列单片机在各种工作模式下能够达到预期的低功耗性能的关键步骤。低功耗测试通常包括静态功耗测试、动态功耗测试、不同低功耗模式下的功耗测试以及功耗优化验证。这些测试不仅帮助开发人员了解单片机的实际功耗情况，还为优化设计提供了有力的数据支持。

29.2静态功耗测试

静态功耗测试是指在单片机处于非活动状态（如待机模式或深度睡眠模式）时，测量其功耗。静态功耗测试的目的是确保在这些模式下，单片机的功耗最小化，从而延长电池寿命。

29.2.1测试方法

设置低功耗模式：首先，将单片机设置为待机模式或深度睡眠模式。

关闭所有外设：确保所有外设和不必要功能都已关闭。

使用精密电源和电流表：连接精密电源和电流表，测量单片机的静态电流。

记录数据：在不同的电压和温度条件下记录静态功耗数据。

29.2.2代码示例

以下是一个设置STM32L5进入待机模式的代码示例：

#includestm32l5xx_hal.h

voidEnterStandbyMode(void){

//初始化HAL库

HAL_Init();

//关闭所有外设

__HAL_RCC_ALLPERIPH_DISABLE();

//配置系统进入待机模式

HAL_PWR_EnterSTANDBYMode();

}

intmain(void){

//初始化系统时钟

HAL_RCC_OscConfig(RCC_OSCILLATORTYPE_HSI,HSI_Config,RCC_PLLSOURCE_HSI);

HAL_RCC_ClkInit(RCC_ClkInitStruct);

//进入待机模式

EnterStandbyMode();

//以下代码不会执行

while(1){

}

}

29.3动态功耗测试

动态功耗测试是指在单片机处于活动状态（如运行程序或处理数据）时，测量其功耗。动态功耗测试的目的是确保在这些模式下，单片机的功耗在预期范围内，不会因过度功耗而影响性能或电池寿命。

29.3.1测试方法

运行典型应用：编写一个典型的应用程序，如数据采集、处理和传输。

使用精密电源和电流表：连接精密电源和电流表，测量单片机的动态电流。

记录数据：在不同的负载和工作条件下记录动态功耗数据。

29.3.2代码示例

以下是一个运行简单的数据采集和处理程序的代码示例：

#includestm32l5xx_hal.h

voidSystemClock_Config(void);

staticvoidMX_GPIO_Init(void);

staticvoidMX_USART2_UART_Init(void);

staticvoidMX_ADC_Init(void);

voidEnterLowPowerMode(void){

//关闭不必要外设

__HAL_RCC_ALLPERIPH_DISABLE();

//配置低功耗模式

HAL_PWRErrorStatusTypeDefresult=HAL_PWR_EnterLOWPOWERMode();

if(result!=HAL_OK){

//处理错误

Error_Handler();

}

}

voidDataAcquisition(void){

ADC_ChannelConfTypeDefsConfig={0};

//使能ADC

HAL_ADC_Start(hadc);

//配置ADC通道

sConfig.Channel=ADC_CHANNEL_0;

sConfig.Rank=ADC_RANK_CHANNEL_NUMBER;

sConfig.SamplingTime=ADC_SAMPLETIME_2CYCLES_5;

sConfig.SingleDiff=ADC_SINGLE_ENDED;

sConfig.OffsetNumber=ADC_OFFSET_NONE;

sConfig.Offset=0;

HAL_ADC_ConfigChannel(hadc,sConfig);

//读取ADC值