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电阻层析成像：高分辨率算法探索与三维敏感场特性解析

一、引言

1.1研究背景与意义

在当今科技飞速发展的时代，电阻层析成像（ElectricalResistanceTomography，ERT）技术作为一种极具潜力的非侵入式成像技术，正逐渐在众多领域崭露头角。它通过在被测对象边界施加电流并测量相应电压，进而计算出被测对象内部的电阻率分布，以重建出反映物体内部结构的图像，实现无扰动的可视化测量。该技术起源于20世纪20年代地球物理学研究者提出的线性电极阵列的电阻率成像技术，随后在70年代生物医学领域发展出圆形电极阵列的断层电阻率测量技术，并逐渐演变为医学EIT技术，ERT