椭偏仪实验:膜厚与折射率测量分析.pdf

椭偏仪实验:膜厚与折射率测量分析.pdf

童力P

实验目的,实验原理:详见实验预习报

实验内容:

1、调节载物台水平、光路共轴;

2、定位起偏器、检偏器、调整偏振片;

3、本次实验选取的是4号样本,其中

膜厚度理论值:d=440nm

折射率理论值:n=2.0

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档