- 1、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。。
- 2、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载。
- 3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
- 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
- 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
FMEDA安全分析
报告编号:
版本:
项目序号:
作者评审批准
部门部门部门
签名日期签名日期签名日期
1.变更历史
版本日期变更内容作者审核
安全机制:
ID描述诊断间隔+反应时间FTTI诊断覆盖率确定理由DC/诊断覆盖率
SM01MCU双核锁步ISO26262-5D399%
SM02
SM03
SM04
SM05
SM06
SM07
SM08
SM09
SM10
假定:
1本项目采用SN29500数据库进行计算硬件架构度量
2如果可以从元器件供应商获取失效率值,将取代从SN29500查表所获取的失效率值
3通过IEC62380获得各个元器件的失效模式分布
electrolytic
electrolyticcapacitor失效模式失效模式分布使用的失效模式分布
capacitor失效率
ShortCircuit90%90%
2
OpenCircuits10%10%
项目名称:
SG-01:避免非预期电池包过放
单点失效度量
元器件失效率失效模式对安全相关无安全机制时的失效模防止失效的失效模式覆残余失效或
类型失效模式失效率分布影响(Effect)
ID(FIT)于的失效率器件?式是否有违背SG可能?安全机制SM盖单点失效FIT
项目名称:
SG-01:避免非预期电池包过放
潜在失效率度量PHMF计算
文档评论(0)