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基于边界扫描的板级测试方法：原理、应用与优化研究

一、引言

1.1研究背景与意义

在科技飞速发展的当下，电子产品已然深度融入人们生活的方方面面，从日常使用的智能手机、平板电脑，到汽车电子、航空航天等高端领域的复杂系统，其应用范围极为广泛。随着市场对电子产品性能和功能的要求持续攀升，产品的复杂度与集成度也在不断提高。一块小小的电路板上，往往集成了数以千计甚至万计的电子元件，这些元件通过错综复杂的电路线路相互连接，共同实现电子产品的各种功能。

在电子产品的生产制造过程中，板级测试是确保产品质量和性能的关键环节。电路板作为电子产品的核心组成部分，其质量直接关系到整个产品的稳定性、可靠性以及使用寿命