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附表
内容
封面
标
文件名
版本
A
题
页序
版本
变更说明
制定
批准
日期
版本
页序
3.0参考
4.0定义
5.0职责
7.0附件
1.0目的
2.0范围
QUA003测量与监控装置控制程序
QA022计量编码作业指引
见QUA003《测量与监控装置控制程序》5.0款
C
1.被检的计量器具编码____________
检定日期______年______月______日
有效日期______年______月______日
检定原因口到有效期口异常处理(注：口)口其它___________
检定地点_____________________环境条件：温度________℃相对湿度________%
2.本次检定/校准所用主要计量标准器具编码____________________________
项目
NO
实际值
指示值
误差(%)
结论
*允许误差判定参考IMT文件
4.备注
检定结论：□合格；□不合格，调校后合格；
检定员：
审核：
□合格,限条件使用；□不合格，送修
计量器具检定/校准记录
3.其它部分：外观及工作正常性检查结论□合格□不合格
何志银
C
6.1检定的技术要求和检定条件
6.2检定方法
7.1检定/校准记录表
首版发行
B
*正文3.0及6.1.2内容修订
*正文5.0修订
陈阳
97.11.18
*正文6.1.2内容修订；*正文6.1.1内容修订；*正文3.0及5.0修订
陈伯友
刘发华
02.08.08
塞尺校验指导书
*内容变更
IMT014
IMT014
符合检定规程，保证塞尺校验的一致性、正确性
本公司内检各型规格、型号的塞尺
准器具
6.0校验程序
型号、测量的范围(共几片)，及计量器具许可证标志均正确无误
6.1.2被检的塞尺的误差判定：
6.1.1外观检查：有无生锈、机械性损伤、少片等影响测量的缺陷；被检塞尺的制造厂、规格、
0.02mm~0.10mm范围内Sn≤±0.007为合格
0.10mm~1.00mm范围内Sn≤±0.002为合格
6.1.3检定条件
6.1.3.1检定环境条件：温度20℃±10℃,相对湿度≤75％
6.1.3.2检定时用的标准器具：编码IMM84M数显千分尺，制造商日本Mitutoy、型号SR44、
6.2.1外观判定同6.1.1款判定即可
6.2.2被检塞尺径外观检查合格后，用标准的数显千分尺逐片测量，并记录标准的数显卡尺的
测量值LN，和被检塞尺每片上标称数值LX
判定合格要求见6.1.2款即可
6.3检定周期：本公司内检的塞尺检定周期12个月
2of3
1of3
塞尺：是几何量计量中从厚度的自然标准传递到实物的标准，保证被测量间隙量值统一的标
Length:0~25mm，最大允许误差±4μm，最小分度值0.001mm
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值
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