第八章使用IQ+
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8.11使用He或N2介质校正的设定
为确定介质的校正系数,对于每个测量条件必须测量一个通道,首先在真空中测量,然后在He气中测量。在用默认的定性程序时,这意味着一个扫描段需要一个通道,使用PE晶体的两个扫描段可以测量一个通道,因为两个扫描段使用的是同一种测量条件)。轻元素的非线性衰减在软件中是经过预先编程的。
使用介质(He或者N2)的校正设定应执行以下步骤:
建一个新的仪器监控;
测量监控样品;
计算介质校正系数;
8.11.1创建一个新仪器监控
点击任务条上的按钮;
点击按钮;
显示系统设定应用
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