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2025年芯片失效分析面试题及答案.pdf

2025年芯片失效分析面试题及答案.pdf

    芯片失效分析面试题及答案

    一、选择题（每题3分，共30分）

    1.以下哪种不属于芯片失效的物理原因？（）

    A.电迁移

    B.静电放电

    C.设计缺陷

    D.热应力

    答案：C

    2.芯片失效分析中常用的非破坏性检测方法是（）

    A.开封（Decapsu

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