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2025年中国片状二极管数据监测报告.docx

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    2025年中国片状二极管数据监测报告

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    TOC\o1-3\h\z\u353摘要 3

    8281一、国产片状二极管产业核心技术卡点穿透分析 4

    164501.1芯片结构设计中的载流子迁移效率瓶颈解构 4

    54441.2封装界面热阻形成机制与失效底层逻辑 6

    139441.3材料纯度波动对漏电流指数级放大的因果链验证 6

    304331.4国产MOS势垒调控工艺与国际标杆的量子能带匹配度对比 9

    316251.5制造过程中等离子体刻蚀均匀性对批次一致性的影响函数建模 12

    17940二、全球头部企业竞争策略的隐性壁垒拆解 15

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