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（热门！）2025版半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)测量方法.docx

（热门！）2025版半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)测量方法.docx

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    2025版半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)测量方法

    1范围

    本文件描述了半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)的测量方法。

    本文件适用于半导体设备的可靠性、可用性和维修性(RAM)测试。

    2规范性引用文件

    本文件没有规范性引用文件。

    3术语和定义

    下列术语和定义适用于本文件。

    3.1

    可靠性reliability

    在一段时间内，设备在规定的条件下执行其预定功能的可能性。

    3.2

    可用性availability

    当需要时，设备处于能够执行其预定功能状态的可能性。

    3.3

    维修性maintainability

    在一段时间内，设备保持在或恢复到能够执行

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