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陶瓷电容失效模式和机理.pdf

陶瓷电容失效模式和机理.pdf

    陶瓷电容失效模式和机理

    1.陶瓷电容的介质击穿失效模式，是由于施加在电容两端的电压超过了

    陶瓷介质的耐受电压，致使介质内部的绝缘性能遭到破坏，形成导电通道，

    从而导致电容失去正常的电容特性。

    机理详解：陶瓷介质有其特定的耐压能力，当外加电压过高时，电场强

    度超过介质的临界值，会使介质中的电子获得足够能量脱离原子束缚，形成

    大量自由电子，进而使介质由绝缘状态变为导电状态，造成介质击穿。

    2.电容的机械损伤失效，主要是在制造、运输或使用过程中，电容受到

    外力冲击、振动或挤压，导致陶瓷本体出现裂纹，使得电容的电气性能发生

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