2025年大学《地质学-地质实验与分析》考试备考题库及答案解析.docxVIP

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2025年大学《地质学-地质实验与分析》考试备考题库及答案解析?

单位所属部门:________姓名:________考场号:________考生号:________

一、选择题

1.地质实验中,用于测定岩石密度常用的仪器是()

A.磁力仪

B.天平

C.光学显微镜

D.钻机

答案:B

解析:天平是地质实验中常用的测量仪器,用于测定岩石的质量和体积,进而计算出密度。磁力仪用于测定岩石的磁性,光学显微镜用于观察岩石的微观结构,钻机是用于采集岩心的设备。因此,测定岩石密度常用的仪器是天平。

2.地质分析中,用于测定岩石中元素含量的方法是()

A.岩相学分析

B.化学分析

C.物理性质测试

D.地球物理勘探

答案:B

解析:化学分析是地质分析中常用的方法,用于测定岩石中各种元素的含量。岩相学分析是研究岩石的宏观和微观特征,物理性质测试是测定岩石的物理参数,地球物理勘探是利用物理方法探测地下的地质结构。因此,测定岩石中元素含量的方法是化学分析。

3.地质实验中,用于测定岩石抗压强度的方法是()

A.岩心钻探

B.三轴压缩试验

C.光学显微镜观察

D.化学成分分析

答案:B

解析:三轴压缩试验是地质实验中常用的方法,用于测定岩石的抗压强度。岩心钻探是采集岩心的方法,光学显微镜观察是研究岩石的微观结构,化学成分分析是测定岩石中元素含量的方法。因此,测定岩石抗压强度的方法是三轴压缩试验。

4.地质分析中,用于测定岩石中矿物成分的方法是()

A.岩相学分析

B.X射线衍射分析

C.化学成分分析

D.地球物理勘探

答案:B

解析:X射线衍射分析是地质分析中常用的方法,用于测定岩石中矿物的成分和结构。岩相学分析是研究岩石的宏观和微观特征,化学成分分析是测定岩石中元素含量的方法,地球物理勘探是利用物理方法探测地下的地质结构。因此,测定岩石中矿物成分的方法是X射线衍射分析。

5.地质实验中,用于测定岩石孔隙度的方法是()

A.岩心钻探

B.压汞试验

C.光学显微镜观察

D.化学成分分析

答案:B

解析:压汞试验是地质实验中常用的方法,用于测定岩石的孔隙度。岩心钻探是采集岩心的方法,光学显微镜观察是研究岩石的微观结构,化学成分分析是测定岩石中元素含量的方法。因此,测定岩石孔隙度的方法是压汞试验。

6.地质分析中,用于测定岩石中化学元素的方法是()

A.岩相学分析

B.原子吸收光谱分析

C.化学成分分析

D.地球物理勘探

答案:B

解析:原子吸收光谱分析是地质分析中常用的方法,用于测定岩石中化学元素的含量。岩相学分析是研究岩石的宏观和微观特征,化学成分分析是测定岩石中元素含量的方法,地球物理勘探是利用物理方法探测地下的地质结构。因此,测定岩石中化学元素的方法是原子吸收光谱分析。

7.地质实验中,用于测定岩石中矿物颗粒大小的方法是()

A.岩心钻探

B.筛分分析

C.光学显微镜观察

D.化学成分分析

答案:B

解析:筛分分析是地质实验中常用的方法,用于测定岩石中矿物颗粒的大小。岩心钻探是采集岩心的方法,光学显微镜观察是研究岩石的微观结构,化学成分分析是测定岩石中元素含量的方法。因此,测定岩石中矿物颗粒大小的方法是筛分分析。

8.地质分析中,用于测定岩石中矿物成分的方法是()

A.岩相学分析

B.X射线荧光分析

C.化学成分分析

D.地球物理勘探

答案:B

解析:X射线荧光分析是地质分析中常用的方法,用于测定岩石中矿物的成分和元素含量。岩相学分析是研究岩石的宏观和微观特征,化学成分分析是测定岩石中元素含量的方法,地球物理勘探是利用物理方法探测地下的地质结构。因此,测定岩石中矿物成分的方法是X射线荧光分析。

9.地质实验中,用于测定岩石中孔隙结构的方法是()

A.岩心钻探

B.压汞试验

C.扫描电镜观察

D.化学成分分析

答案:B

解析:压汞试验是地质实验中常用的方法,用于测定岩石中孔隙的结构和性质。岩心钻探是采集岩心的方法,扫描电镜观察是研究岩石的微观结构,化学成分分析是测定岩石中元素含量的方法。因此,测定岩石中孔隙结构的方法是压汞试验。

10.地质分析中,用于测定岩石中元素含量的方法是()

A.岩相学分析

B.电感耦合等离子体发射光谱分析

C.化学成分分析

D.地球物理勘探

答案:B

解析:电感耦合等离子体发射光谱分析是地质分析中常用的方法,用于测定岩石中元素的含量。岩相学分析是研究岩石的宏观和微观特征,化学成分分析是测定岩石中元素含量的方法,地球物理勘探是利用物理方法探测地下的地质结构。因此,测定岩石中元素含量的方法是电感耦合等离子体发射光谱分析。

11.地质实验中,用于测定岩石薄片厚度常用的工具是()

A.游标卡尺

B.螺旋测微器

C.千分尺

D

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