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芯片测试工程师职业发展常见问题解答
一、选择题（共5题，每题2分）
1.在芯片测试过程中，以下哪项是静态测试的主要目的？
A.检测芯片在高速运行时的信号完整性
B.验证芯片在不同温度环境下的稳定性
C.测试芯片的逻辑功能是否符合设计规范
D.评估芯片的功耗和散热性能
2.以下哪种测试方法通常用于验证芯片的时序特性？
A.功能测试
B.封装测试
C.时序测试
D.可靠性测试
3.在芯片测试中，ATE的全称是什么？
A.AutomatedTestEquipment
B.AdvancedTestEquipment
C.
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