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XRD考试题库及答案

一、填空题

1.XRD是指________。

2.XRD分析中，布拉格方程的表达式为________。

3.多晶XRD图谱的横坐标通常表示________。

4.用于XRD测试的样品一般要求为________。

5.XRD测试中常用的辐射源是________。

6.当X射线与晶体相互作用时，会产生________现象。

7.XRD图谱中峰的强度与________有关。

8.粉末XRD方法可以用来测定晶体的________结构。

9.消除XRD测试中Kβ射线的常用方法是________。

10.XRD分析可用于鉴别材料中的________。

二、单项选择题

1.以下哪种射线不能用于XRD分析？（）

A.CuKα射线

B.MoKα射线

C.γ射线

D.CoKα射线

2.布拉格方程中，θ角是指（）

A.入射线与衍射线的夹角

B.入射线与晶面的夹角

C.衍射线与晶面的夹角

D.晶面与晶面之间的夹角

3.XRD图谱中峰的宽度主要与（）有关。

A.晶体的大小

B.晶体的密度

C.晶体的颜色

D.晶体的硬度

4.进行XRD测试时，样品的粒度一般要求在（）。

A.1-10μm

B.10-100μm

C.100-1000μm

D.1000μm以上

5.以下哪种物质不适合用XRD分析？（）

A.单晶体

B.多晶体

C.非晶体

D.粉末晶体

6.XRD分析中，扫描速度过快会导致（）。

A.峰强度增加

B.峰宽变窄

C.峰位置偏移

D.峰分辨率降低

7.在XRD图谱中，最强峰对应的晶面通常是（）。

A.原子密度最大的晶面

B.原子密度最小的晶面

C.晶面间距最大的晶面

D.晶面间距最小的晶面

8.用于XRD测试的样品台一般是由（）制成。

A.玻璃

B.塑料

C.金属

D.陶瓷

9.XRD分析中，探测器的作用是（）。

A.产生X射线

B.过滤X射线

C.接收和记录衍射线

D.聚焦X射线

10.当XRD图谱中出现宽化峰时，可能是由于（）。

A.晶体结构完整

B.晶体存在晶格畸变

C.晶体纯度高

D.晶体密度大

三、多项选择题

1.XRD分析的应用领域包括（）。

A.材料科学

B.地质学

C.生物学

D.物理学

2.影响XRD图谱峰强度的因素有（）。

A.晶面间距

B.原子散射因子

C.多重性因子

D.洛伦兹-偏振因子

3.以下哪些方法可以提高XRD图谱的分辨率？（）

A.降低扫描速度

B.增加管电流

C.选择合适的狭缝宽度

D.提高探测器的灵敏度

4.XRD测试前，对样品进行预处理的目的是（）。

A.使样品粒度均匀

B.去除杂质

C.提高样品的结晶度

D.增加样品的密度

5.在XRD分析中，可能会出现的干扰因素有（）。

A.样品的择优取向

B.仪器的背景噪声

C.样品的吸收效应

D.空气散射

6.以下关于布拉格方程的说法正确的有（）。

A.它是XRD分析的基础

B.它描述了X射线衍射的条件

C.它可以用于计算晶面间距

D.它只适用于单晶体

7.XRD图谱中的峰可以提供以下哪些信息？（）

A.晶体的结构类型

B.晶体的晶格常数

C.晶体的结晶度

D.晶体中元素的含量

8.选择XRD辐射源时，需要考虑的因素有（）。

A.辐射源的波长

B.辐射源的强度

C.辐射源的稳定性

D.辐射源的价格

9.对于XRD分析中的Kα双线分离，可采用的方法有（）。

A.数学拟合方法

B.物理滤波方法

C.增加扫描速度

D.降低管电压

10.XRD分析在材料研究中的作用有（）。

A.鉴定材料的物相

B.分析材料的晶体结构

C.研究材料的晶格畸变

D.评估材料的热稳定性

四、判断题

1.XRD只能分析晶体材料，不能分析非晶体材料。（）

2.布拉格方程中的n只能取整数。（）

3.XRD图谱中峰的位置只与晶体的结构有关，与测试条件无关。（）

4.样品的粒度对XRD图谱的峰强度没有影响。（）

5.在XRD测试中，管电流越大，峰强度越高。（）

6.XRD分析可以确定晶体中原子的具体位置。（）

7.多晶XRD图谱中的峰是由多个晶面的衍射叠加而成的。（）

8.消除Kβ射线可以提高XRD图谱的分辨率。（）

9.XRD测试时，样品可以是任意形状和大