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基于第一性原理方法的ZnS、ZnSe光学晶体压应力效应.pdf

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    中文摘要

    光弹效应是透明介质的一种重要光学性质，现在广泛应用于弹光与声光调制器、

    应力、压力与加速度传感器等技术领域，但光弹应力、弹光效应和产生的残余应力双

    折射现象会成为影响光学器件性能稳定性的一种不利干扰因素。引入外加的应力场会

    导致半导体材料折射率发生变化，折射率和应力在一定范围内存在线性关系。因此，

    通过获得相应的折射率变化去准确预测压应力的大小，这对光电子学等方面改善半导

    体材料的器件性能起着重要作用。

    ZnSZnSe

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