《SJT 11501-2015碳化硅单晶晶型的测试方法》(2025年)实施指南.pptxVIP

;目录;;;;（二）标准制定的行业动因：解决何种痛点与乱象？;;;核心适用对象：哪些碳化硅单晶产品必须遵循本标准？;（二）明确排除范围：哪些情况不适用及替代方案是什么？;（三）特殊场景适配：小尺寸、高缺陷单晶如何灵活应用标准？;;样品制备规范：如何处理才能确保测试准确性？;;（三）设备校准流程：多久校准一次及关键校准指标是什么？;;核心原理拆解：X射线如何“识别”不同晶型结构？;;;;互补优势解析：为何需与X射线衍射法联合使用？;（二）详细测试流程：激光功率、扫描时间等参数如何设定？;;;晶型识别核心依据：标准中哪些指标是判定关键？;;（三）异常情况处理：特征峰分裂、强度异常该如何应对？;;;;（三）结果验证方法：内部复核与外部比对如何开展？;;;;;;;（二）跨境应用适配：出口产品如何满足目标市场测试要求？;（三）国际互认路径：如何推动本标准与国际规范互认？;;新型测试技术涌现：同步辐射、透射电镜等技术有何突破？;（二）标准迭代方向预测：哪些内容可能纳入下一版标准？;