二极管考试试题及答案.docVIP

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二极管考试试题及答案

一、单项选择题(总共10题,每题2分)

1.二极管的主要特性是(B)。

A.高频特性

B.单向导电性

C.稳压特性

D.整流特性

2.当二极管正向偏置时,其阻值(A)。

A.很小

B.很大

C.零

D.无穷大

3.当二极管反向偏置时,其阻值(B)。

A.很小

B.很大

C.零

D.无穷大

4.二极管的开启电压通常是指(C)。

A.反向饱和电流

B.正向电流

C.正向导通所需的最低电压

D.反向击穿电压

5.二极管的反向击穿电压是指(D)。

A.正向导通电压

B.正向饱和电流

C.反向饱和电流

D.二极管能承受的最大反向电压

6.二极管的主要应用不包括(A)。

A.滤波

B.整流

C.开关

D.稳压

7.二极管的PN结是由(B)形成的。

A.P型半导体和N型半导体的结合

B.P型半导体和N型半导体的接触

C.金属和半导体的接触

D.半导体和绝缘体的接触

8.二极管的结电容主要取决于(C)。

A.正向电流

B.反向电流

C.PN结的面积

D.二极管的材料

9.二极管的温度系数是指(B)。

A.正向偏置时的电压变化率

B.温度变化对二极管参数的影响

C.反向偏置时的电流变化率

D.二极管的功率损耗

10.二极管的反向恢复时间是指(A)。

A.二极管从导通状态切换到反向状态所需的时间

B.二极管从反向状态切换到导通状态所需的时间

C.二极管的开关速度

D.二极管的响应时间

二、多项选择题(总共10题,每题2分)

1.二极管的主要参数包括(ABCD)。

A.正向压降

B.反向饱和电流

C.反向击穿电压

D.结电容

2.二极管的单向导电性是由于(AB)造成的。

A.PN结的内建电场

B.耗尽层的存在

C.正向偏置时的电流

D.反向偏置时的电流

3.二极管在电路中的应用包括(ABCD)。

A.整流电路

B.开关电路

C.稳压电路

D.滤波电路

4.二极管的特性曲线包括(ABCD)。

A.正向特性曲线

B.反向特性曲线

C.零偏特性曲线

D.温度特性曲线

5.二极管的温度特性表现为(AB)。

A.正向压降随温度升高而减小

B.反向饱和电流随温度升高而增大

C.反向击穿电压随温度升高而增大

D.结电容随温度升高而增大

6.二极管的开关特性包括(AB)。

A.开启时间

B.关闭时间

C.正向压降

D.反向饱和电流

7.二极管的等效电路模型包括(ABCD)。

A.理想二极管模型

B.恒压源模型

C.恒流源模型

D.结电容模型

8.二极管的反向恢复现象是由于(AB)造成的。

A.耦合电容

B.PN结的存储电荷

C.正向偏置电流

D.反向偏置电流

9.二极管的参数测试方法包括(ABCD)。

A.电压表测试

B.电流表测试

C.曲线测试

D.参数分析仪测试

10.二极管的应用电路包括(ABCD)。

A.整流桥

B.稳压二极管电路

C.开关二极管电路

D.避雷器电路

三、判断题(总共10题,每题2分)

1.二极管在正向偏置时,其阻值很小,电流很容易通过。(正确)

2.二极管在反向偏置时,其阻值很大,电流很难通过。(正确)

3.二极管的开启电压通常为0.7V。(正确)

4.二极管的反向击穿电压通常很高,因此可以用于高电压应用。(正确)

5.二极管的PN结是由P型半导体和N型半导体的结合形成的。(正确)

6.二极管的结电容主要取决于PN结的面积。(正确)

7.二极管的温度系数是指温度变化对二极管参数的影响。(正确)

8.二极管的反向恢复时间是指二极管从导通状态切换到反向状态所需的时间。(正确)

9.二极管的单向导电性是由于PN结的内建电场和耗尽层的存在造成的。(正确)

10.二极管的开关特性包括开启时间和关闭时间。(正确)

四、简答题(总共4题,每题5分)

1.简述二极管的单向导电性原理。

答:二极管的单向导电性是由于PN结的内建电场和耗尽层的存在造成的。当二极管正向偏置时,内建电场被削弱,耗尽层变窄,电流容易通过;当二极管反向偏置时,内建电场增强,耗尽层变宽,电流很难通过,从而实现单向导电性。

2.简述二极管的反向恢复现象。

答:二极管的反向恢复现象是由于PN结的存储电荷造成的。当二极管从正向偏置切换到反向偏置时,存储电荷需要一定时间才能消失,导致反向电流暂时增大,这个现象称为反向恢复现象。

3.简述二极管的等效电路模型。

答:二极管的等效电路模型包括理想二极管模型、恒压源模型、恒流源模型和结电容模型。理想二极管模型假设二极管在正向偏置时导通,在反向偏置时截止;恒压源模型假设二极管在正向偏置时有一个固定的正向压

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