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2025年《统计过程控制应用》知识考试题库及答案解析

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一、选择题

1.统计过程控制（SPC）主要用于（）

A.产品设计的创新

B.过程质量的监控和改进

C.原材料的选择

D.成本核算

答案：B

解析：统计过程控制（SPC）的核心目的是通过收集和分析过程数据，监控过程稳定性，及时发现异常波动，从而保证产品质量。它不直接涉及产品设计、原材料选择或成本核算，而是专注于过程本身的监控和改进。

2.控制图上的中心线代表（）

A.过程的平均水平

B.过程的最大波动范围

C.过程的最低波动范围

D.过程的合格率

答案：A

解析：控制图中的中心线（CL）通常绘制在数据平均值的位置，它代表了一个稳定过程中期望的平均水平或目标值。它不是最大或最小波动范围，也不是合格率。

3.当控制图上的点超出控制界限时，通常判断为（）

A.过程发生特殊原因变异

B.数据测量错误

C.过程处于统计控制状态

D.过程平均水平发生漂移

答案：A

解析：控制图的基本原则是，如果过程处于统计控制状态，几乎所有的点都应落在控制界限内。当有点超出控制界限时，这通常表明过程受到了特殊原因的影响，导致了异常波动，需要进一步调查和采取纠正措施。测量错误也可能导致点超出界限，但特殊原因变异是首要考虑的情况。

4.控制图上的虚线通常表示（）

A.过程的平均水平

B.过程的短期波动

C.过程的长期波动

D.过程的公差范围

答案：C

解析：在许多控制图的应用实践中，为了区分过程短期（随机）波动和长期（系统性）波动，可能会使用虚线来表示长期趋势或均值的变化，或者用来标记目标值等参考信息。中心线通常是实线，代表平均水平和短期期望。控制界限是判断特殊原因的关键，公差范围与控制界限不同，公差范围通常由客户或规范定义，而控制界限由过程数据本身计算得出。

5.计算过程能力指数（Cp）时，公差上限和下限之差代表（）

A.过程的平均水平

B.过程的标准差

C.公差范围

D.过程的变异程度

答案：C

解析：过程能力指数（Cp）是衡量过程满足规格要求能力的指标。其计算公式为Cp=(上限-下限)/(6*过程标准差)。公式中的(上限-下限)正是规格公差范围，它表示允许产品存在的最大变异量。因此，公差范围是计算Cp的分子部分。

6.在选择控制图时，对于计件数据通常优先考虑（）

A.X图

B.X?图

C.P图

D.S图

答案：C

解析：统计过程控制图有多种类型，选择哪种类型取决于被监控数据的类型和分布。计件数据是指按件计数的数据，例如缺陷数、不合格品数等。P图（比例图）专门用于监控每件产品中具有某种特性的比例（如不合格品率），因此是计件数据的常用控制图。X图用于单个测量值，X?图用于样本均值，S图用于样本标准差，这些通常用于计量数据。

7.控制图分析中，“分析用控制图”主要用于（）

A.判断过程是否处于统计控制状态

B.确定过程能力指数

C.规定控制界限

D.设计过程控制方案

答案：A

解析：控制图根据使用目的分为“分析用控制图”和“控制用控制图”。分析用控制图是根据过程初始阶段的样本数据计算控制界限，并用于判断过程是否受到特殊原因变异影响，即判断过程是否处于统计控制状态。一旦过程被判定为处于统计控制状态，就可以将其转化为控制用控制图，用于日常监控。确定过程能力指数、规定控制界限和设计控制方案是在分析阶段或设计阶段进行的，不是分析用控制图的主要目的。

8.连续15个点都在中心线一侧，这通常被视为（）

A.过程的正常波动

B.过程发生特殊原因变异的信号

C.过程平均水平发生偏移

D.数据测量系统需要改进

答案：B

解析：根据控制图判异规则，连续15个点落在中心线一侧（无论是否超出控制界限）被认为是异常模式之一，表明过程可能受到了特殊原因的影响。虽然这些点可能都在控制界限内，但这种偏离常态的排列方式强烈暗示过程稳定性受到了破坏，需要立即进行调查和采取纠正措施。

9.计算样本标准差（S）时，分母通常为（）

A.样本大小减一

B.样本大小

C.总体大小减一

D.总体大小

答案：A

解析：在统计学中，对于样本数据计算标准差时，为了得到对总体标准差的无偏或更有效估计，分母通常使用样本大小减一（即自由度n-1）。这是贝塞尔校正（Besselscorrection）的应用。如果使用样本大小（n）作为分母，计算出的标准差会倾向于低估总体的真实标准差，尤其是在样本量较小的情况下。对于总体标准差的计算，分母则使用总体大小（N）。

10.控制图上的控制界限通常基于（）

A.规格公差

B.正态分布理论

C.过程平