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Synopsys MOS Device Aging Analysis with HSPICE and CustomSim User Manual说明书用户手册.pdf

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    WhitePaper

    MOSDeviceAgingAnalysis

    withHSPICEandCustomSim

    August2011

    AuthorsAbstract

    BogdanTudorInMOSintegratedcircuits,deviceagingismainlyduetothedegradationofthegatedielectricandof

    JoddyWangtheinterfacebetweengatediel

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