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2025年无损检测员中级无损检测综合历年试题及答案
一、单项选择题(每题1分,共30分)
1.在射线照相中,若曝光量E保持不变,管电压升高10%,胶片黑度将:
A.明显下降
B.基本不变
C.明显上升
D.先升后降
答案:C
解析:管电压升高,射线穿透能力增强,胶片接受的散射分量增加,黑度上升。
2.超声检测中,当探头与工件之间加入0.1mm厚的塑料薄膜,对5MHz纵波声压反射率的影响约为:
A.下降2%
B.下降10%
C.下降30%
D.下降50%
答案:B
解析:薄膜引入的界面反射使声压透射系数下降约10%。
3.磁粉检测时,若工件表面Br=0.8T,μr=200,则表面有效磁场强度约为:
A.3.2kA/m
B.4.0kA/m
C.5.0kA/m
D.6.3kA/m
答案:A
解析:H=Br/(μ0μr)=0.8/(4π×10??×200)≈3.2kA/m。
4.渗透检测中,荧光渗透剂在365nm紫外线下亮度为800μW/cm2,若背景照度为20lx,则对比度约为:
A.8:1
B.15:1
C.30:1
D.60:1
答案:C
解析:亮度比≈(800/20)×(683×0.26/1000)≈30:1。
5.涡流检测时,激励频率从2kHz提高到8kHz,对非铁磁性薄壁管壁厚测量的灵敏度:
A.降低
B.不变
C.提高
D.先升后降
答案:C
解析:频率升高,趋肤深度减小,对薄壁变化更敏感。
6.射线底片黑度D=2.5,观片灯亮度为100cd/m2,人眼识别最小对比度ΔDmin=0.05,可识别最小线径对应的对比度为:
A.0.02
B.0.03
C.0.04
D.0.05
答案:D
解析:ΔDmin已给出,直接取0.05。
7.超声TOFD检测中,若两探头中心距2s=100mm,工件厚t=30mm,则直通波与底面反射波时间差约为(钢CL=5900m/s):
A.8.5μs
B.10.2μs
C.12.7μs
D.15.1μs
答案:C
解析:Δt=(2√(s2+t2)?2s)/CL≈12.7μs。
8.磁粉检测环形试件,采用中心导体法,电流3000A,内径80mm,则工件表面切向场强约为:
A.12kA/m
B.24kA/m
C.36kA/m
D.48kA/m
答案:B
解析:H=I/(2πr)=3000/(2π×0.04)≈12kA/m,但试件外表面r=0.08m,再折减≈24kA/m。
9.渗透检测中,若乳化时间过长,最可能出现的缺陷是:
A.虚假显示
B.过洗
C.干斑
D.渗色
答案:B
解析:乳化剂过度溶解渗透剂,导致缺陷内渗透剂被洗出。
10.涡流检测中,填充系数η从0.6提高到0.9,对裂纹相位角的影响:
A.增大10°
B.减小10°
C.基本不变
D.增大30°
答案:C
解析:相位角主要由频率与电导率决定,填充系数影响幅度。
11.射线实时成像系统中,像素尺寸0.2mm,几何放大比M=1.5,则系统最大理论分辨率约为:
A.1.0LP/mm
B.2.5LP/mm
C.3.3LP/mm
D.5.0LP/mm
答案:C
解析:R=1/(2×0.2×1.5)≈3.3LP/mm。
12.超声检测中,若探头K值标称2.0,实测折射角63.4°,则工件中横波速度为:
A.2900m/s
B.3100m/s
C.3230m/s
D.3400m/s
答案:C
解析:tanθ=K=2→θ=63.4°,CS=CLsinθ/sin(90?θ)=5900×sin63.4°/sin26.6°≈3230m/s。
13.磁粉检测中,若使用直流电退磁,初始场强40kA/m,要求剩磁≤0.3mT,则退磁时间至少:
A.1s
B.3s
C.10s
D.30s
答案:C
解析:经验公式t≥(H0/1000)×2s,取10s保险。
14.渗透检测中,荧光渗透剂亮度下降50%所需时间称为:
A.闪点
B.乳化时间
C.寿命
D.褪色时间
答案:D
解析:荧光亮度衰减50%定义为褪色时间。
15.涡流检测中,若电导率σ从20MS/m降到10MS/m,则标准渗透深度变化倍率为:
A.0.5
B.0.7
C.1.0
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