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2025年无损检测员中级无损检测综合历年试题及答案

一、单项选择题(每题1分,共30分)

1.在射线照相中,若曝光量E保持不变,管电压升高10%,胶片黑度将:

A.明显下降

B.基本不变

C.明显上升

D.先升后降

答案:C

解析:管电压升高,射线穿透能力增强,胶片接受的散射分量增加,黑度上升。

2.超声检测中,当探头与工件之间加入0.1mm厚的塑料薄膜,对5MHz纵波声压反射率的影响约为:

A.下降2%

B.下降10%

C.下降30%

D.下降50%

答案:B

解析:薄膜引入的界面反射使声压透射系数下降约10%。

3.磁粉检测时,若工件表面Br=0.8T,μr=200,则表面有效磁场强度约为:

A.3.2kA/m

B.4.0kA/m

C.5.0kA/m

D.6.3kA/m

答案:A

解析:H=Br/(μ0μr)=0.8/(4π×10??×200)≈3.2kA/m。

4.渗透检测中,荧光渗透剂在365nm紫外线下亮度为800μW/cm2,若背景照度为20lx,则对比度约为:

A.8:1

B.15:1

C.30:1

D.60:1

答案:C

解析:亮度比≈(800/20)×(683×0.26/1000)≈30:1。

5.涡流检测时,激励频率从2kHz提高到8kHz,对非铁磁性薄壁管壁厚测量的灵敏度:

A.降低

B.不变

C.提高

D.先升后降

答案:C

解析:频率升高,趋肤深度减小,对薄壁变化更敏感。

6.射线底片黑度D=2.5,观片灯亮度为100cd/m2,人眼识别最小对比度ΔDmin=0.05,可识别最小线径对应的对比度为:

A.0.02

B.0.03

C.0.04

D.0.05

答案:D

解析:ΔDmin已给出,直接取0.05。

7.超声TOFD检测中,若两探头中心距2s=100mm,工件厚t=30mm,则直通波与底面反射波时间差约为(钢CL=5900m/s):

A.8.5μs

B.10.2μs

C.12.7μs

D.15.1μs

答案:C

解析:Δt=(2√(s2+t2)?2s)/CL≈12.7μs。

8.磁粉检测环形试件,采用中心导体法,电流3000A,内径80mm,则工件表面切向场强约为:

A.12kA/m

B.24kA/m

C.36kA/m

D.48kA/m

答案:B

解析:H=I/(2πr)=3000/(2π×0.04)≈12kA/m,但试件外表面r=0.08m,再折减≈24kA/m。

9.渗透检测中,若乳化时间过长,最可能出现的缺陷是:

A.虚假显示

B.过洗

C.干斑

D.渗色

答案:B

解析:乳化剂过度溶解渗透剂,导致缺陷内渗透剂被洗出。

10.涡流检测中,填充系数η从0.6提高到0.9,对裂纹相位角的影响:

A.增大10°

B.减小10°

C.基本不变

D.增大30°

答案:C

解析:相位角主要由频率与电导率决定,填充系数影响幅度。

11.射线实时成像系统中,像素尺寸0.2mm,几何放大比M=1.5,则系统最大理论分辨率约为:

A.1.0LP/mm

B.2.5LP/mm

C.3.3LP/mm

D.5.0LP/mm

答案:C

解析:R=1/(2×0.2×1.5)≈3.3LP/mm。

12.超声检测中,若探头K值标称2.0,实测折射角63.4°,则工件中横波速度为:

A.2900m/s

B.3100m/s

C.3230m/s

D.3400m/s

答案:C

解析:tanθ=K=2→θ=63.4°,CS=CLsinθ/sin(90?θ)=5900×sin63.4°/sin26.6°≈3230m/s。

13.磁粉检测中,若使用直流电退磁,初始场强40kA/m,要求剩磁≤0.3mT,则退磁时间至少:

A.1s

B.3s

C.10s

D.30s

答案:C

解析:经验公式t≥(H0/1000)×2s,取10s保险。

14.渗透检测中,荧光渗透剂亮度下降50%所需时间称为:

A.闪点

B.乳化时间

C.寿命

D.褪色时间

答案:D

解析:荧光亮度衰减50%定义为褪色时间。

15.涡流检测中,若电导率σ从20MS/m降到10MS/m,则标准渗透深度变化倍率为:

A.0.5

B.0.7

C.1.0

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