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深度解析(2026)《GBT 43034.2-2024集成电路 脉冲抗扰度测量 第2部分 同步瞬态注入法》(2026年)深度解析.pptxVIP

深度解析(2026)《GBT 43034.2-2024集成电路 脉冲抗扰度测量 第2部分 同步瞬态注入法》(2026年)深度解析.pptx

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    《GB/T43034.2-2024集成电路脉冲抗扰度测量第2部分:同步瞬态注入法》(2026年)深度解析

    目录从芯片可靠性到行业信任:同步瞬态注入法为何成为集成电路抗扰测试新标杆?测试环境“零误差”密码:专家剖析同步瞬态注入法的实验室搭建与校准精髓被测芯片的“身份适配”:不同封装与引脚配置下的测试方案优化策略数据解读的“火眼金睛”:如何区分脉冲干扰下的芯片故障与正常响应?未来应用新场景:5G与AIoT时代,标准如何支撑高端芯片的抗扰性能升级?标准核心框架揭秘:GB/T43034.2-2024如何构建脉冲抗扰测量的完整技术体系?脉冲信号的“精准打击”:

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